[实用新型]可稳定立式放置探针卡的治具有效
申请号: | 201920221229.6 | 申请日: | 2019-02-21 |
公开(公告)号: | CN209673858U | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 刘旭邦;阮智超 | 申请(专利权)人: | 紫光宏茂微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/067;G01N21/84;G01N21/01 |
代理公司: | 31285 上海市嘉华律师事务所 | 代理人: | 黄琮;傅云<国际申请>=<国际公布>=< |
地址: | 201700 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探针卡 固定挡板 支撑柱 治具 本实用新型 立式放置 横板部 竖板部 探针 底座 底座连接 间隔设置 检测探针 上侧面 滑动 侧边 抵持 顶面 显微镜 垂直 侧面 检测 观看 | ||
本实用新型实施例公开了一种可稳定立式放置探针卡的治具。本实用新型的可稳定立式放置探针卡的治具,包括:底座、固定挡板和两根支撑柱。固定挡板包括:横板部和竖板部,横板部设置在底座的上侧面上,竖板部垂直于横板部,两根支撑柱间隔设置,与底座连接,位于与固定挡板相对的一侧,支撑柱的顶部与固定挡板的距离小于探针卡的直径,且支撑柱的顶面为斜面。本实用新型的治具,探针卡放置时,探针卡的侧边抵持在固定挡板上,探针卡的侧面抵靠在支撑柱的顶面上,使探针卡倾斜立式放置在治具上,通过显微镜即可观看检测探针卡上的探针,探针卡在治具上不会滑动,方便了对探针卡的探针的检测。
技术领域
本实用新型实施例涉及探针卡技术领域,具体涉及一种可稳定立式放置探针卡的治具。
背景技术
晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆。在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能的集成电路产品。
芯片是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分,晶圆是制造芯片的原材料。制作完成的芯片通过探针卡(Probe card)进行电学性能检测,筛选出制作不良的芯片,经检测合格的芯片再进行后续的封装制程。用于检测芯片的探针卡(Probe card)需定期通过显微镜对位于探针卡中部的探针进行检测、维修。
本申请的发明人发现,现有技术中对探针卡的探针检测时,探针位于探针卡的中部,需将探针卡倾斜立式放置在海绵靠垫上,才能通过显微镜检测。因海绵靠垫易滑动,使得探针卡摆放不稳,不方便探针卡的检测,且易造成探针卡的损坏。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种可稳定立式放置探针卡的治具,使探针卡摆放稳定,方便对探针卡的探针的检测。
本实用新型实施例提供一种可稳定立式放置探针卡的治具,包括:底座、固定挡板和两根支撑柱;
所述固定挡板呈L型,包括:横板部和竖板部;
所述横板部设置在所述底座的上侧面上,与所述底座连接;
所述竖板部垂直于所述横板部,且所述竖板部位于所述底座的外侧;
所述固定挡板用于与探针卡的侧边抵持,且探针卡的侧边抵持于所述横板部与所述竖板部的连接处;
所述两根支撑柱间隔设置,与所述底座连接,且所述两根支撑柱位于与所述固定挡板相对的一侧;
所述两根支撑柱的顶部与所述固定挡板的距离小于探针卡的直径,且所述两根支撑柱的顶面为斜面,所述斜面的高点远离所述固定挡板;
所述两根支撑柱用于与探针卡的侧面抵持。
在一种可行的方案中,所述横板部上设有多个第一螺纹孔,所述底座上设有多个第二螺纹孔;
所述多个第一螺纹孔与所述多个第二螺纹孔对应,使所述横板部通过螺栓与所述底座可拆卸连接。
在一种可行的方案中,所述第一螺纹孔为台阶孔,所述横板部与所述底座连接时,使螺栓的顶面嵌入所述台阶孔。
在一种可行的方案中,所述多个第二螺纹孔设有多组;
多组所述第二螺纹孔间隔设置在所述底座上,用于调节所述横板部与所述支撑柱的距离。
在一种可行的方案中,所述竖板部设有限位卡槽,探针卡的侧边抵持于所述限位卡槽内。
在一种可行的方案中,所述底座的侧面设有第三螺纹孔;
所述支撑柱设有第四螺纹孔,所述第四螺纹孔贯穿所述支撑柱,使所述支撑柱通过螺栓与所述底座可拆卸连接。
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