[实用新型]一种测试架和具有其的测试装置

说明书

本实用新型提供一种测试架和具有其的测试装置，测试架包括：支架，支架包括相互垂直连接的竖框体和水平框体；支撑杆，支撑杆包括多根且多根支撑杆分别垂直连接在竖框体所在的平面的一侧，多根支撑杆呈多排多列分布，每根支撑杆上分别设有绝缘层。根据本实用新型的测试架，多根支撑杆呈多排多列分布，能够将组件水平放置于支撑杆上，使得组件表面形成的水膜均匀，均匀的水膜连接边框和组件玻璃能够使得组件玻璃和边框形成同电势，增强测试严苛性程度，提高测试结果的可靠性，在支撑杆上设有绝缘层能够避免PID测试过程中加在边框的高压产生漏电，保证环境箱以及测试人员的安全，将该测试架置于环境箱中能够较好地完成组件的测试。

技术领域

本实用新型涉及光伏制造技术领域，特别涉及一种测试架和具有其的测试装置。

背景技术

PID(Potential Induced Degradation，电势导致性能减低)成为近年来光伏企业被投诉的重要因素，为了减少投诉问题，目前，许多企业和机构开始对PID进行全面分析和测试。在众多的研究者中，大多采用电势1000V(电势也可根据系统电压调整为1500V)、相对湿度(RH)85％和温度85℃的条件(也有使用60℃)进行测试。测试过程中，可以将电势加在边框和电路部分之间，可以根据电池的P型或N型来选择在边框和电路部分之间加正电势或负电势。测试过程中，较常用的方法是使用环境箱自带的测试架，将组件竖放，竖直放置组件时，组件表面形成的水膜不均匀，不均匀的水膜连接边框和组件玻璃使得组件玻璃和边框不易形成同电势，导致测试严苛性程度不够，影响测试结果可靠性。另外，组件在PID测试过程中，边框上被施加的高电势和环境箱易形成通路，易导致设备故障或带来操作人员人身安全问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种测试架，用于解决组件表面形成的水膜不均匀，组件玻璃和边框不易形成同电势，测试严苛性程度不够以及测试过程存在安全隐患的问题。

本实用新型还提供一种具有上述测试架的测试装置。

为解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案：

根据本实用新型第一方面实施例的测试架，包括：

支架，所述支架包括相互垂直连接的竖框体和水平框体；

支撑杆，所述支撑杆包括多根且多根所述支撑杆分别垂直连接在所述竖框体所在的平面的一侧，多根所述支撑杆呈多排多列分布，每根所述支撑杆上分别设有绝缘层。

进一步地，所述竖框体包括相互平行的上边框和下边框、相互平行的左边框和右边框，所述上边框的左端与所述左边框的上端相连，所述上边框的右端与所述右边框的上端相连，所述下边框的左端与所述左边框的下端相连，所述下边框的右端与所述右边框的下端相连，所述左边框和所述右边框上分别垂直设有多根所述支撑杆。

进一步地，所述竖框体还包括多个中边框，多个所述中边框的两端分别垂直或平行于所述上边框和所述下边框设置，每个所述中边框上分别垂直设有多根所述支撑杆。

进一步地，所述竖框体包括两个，两个所述竖框体平行间隔开设置且两个所述竖框体之间设有连接部。

进一步地，每根所述支撑杆分别与两个所述竖框体中相应的所述左边框、所述右边框和所述中边框相连。

进一步地，每个所述左边框、所述右边框和所述中边框上分别形成有多个沿其长度方向间隔开分布的贯穿孔，每根所述支撑杆分别穿设在两个所述竖框体中相应的所述左边框、所述右边框和所述中边框上的所述贯穿孔中。

进一步地，所述竖框体包括三个中边框，三个所述中边框的两端分别垂直于所述上边框和所述下边框设置；

对应的所述左边框、所述右边框和所述中边框上分别设有八根所述支撑杆。