[实用新型]存储器芯片的动态老化测试装置有效
| 申请号： | 201920046768.0 | 申请日： | 2019-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN209486213U | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 宋晓力;庞戈;罗鑫锋;郭莉 | 申请（专利权）人： | 西安君信电子科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市国家民*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 加热盒 老化板 夹具 功率器件 温控器 存储器芯片 加热片 插槽 柜体 老化测试装置 本实用新型 老化测试 显示结构 金手指 多个插槽 工位设置 探针连接 控制器 产能 夹持 探针 加热 体内 配合 | ||
1.存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，包括柜体、显示结构、温控器以及若干个加热盒，所述柜体内设有若干个供加热盒插设在内的插槽，所述温控器设于所述柜体上，且所述插槽内设有老化板，所述加热盒与所述插槽内的老化板连接，所述加热盒与所述温控器连接，所述显示结构与所述老化板连接，所述加热盒包括夹持功率器件的夹具以及加热片，所述加热片与所述温控器连接，所述加热片与所述夹具连接。
2.根据权利要求1所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述夹具包括夹具本体以及金手指，所述夹具本体内设有探针，所述探针与所述金手指连接，所述金手指与所述老化板连接，所述探针与所述功率器件抵接。
3.根据权利要求2所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述夹具本体包括夹具壳体以及上盖，所述夹具壳体上设有若干个工位，所述工位内设有所述探针，所述金手指位于所述夹具壳体上，且所述上盖封盖在所述夹具壳体的上端，所述工位内放置有所述功率器件。
4.根据权利要求3所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述上盖上设有弹性件，当所述上盖封盖在所述夹具壳体的上端时，所述弹性件抵接所述功率器件。
5.根据权利要求4所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述弹性件包括弹簧以及压片，所述弹簧的末端与所述压片连接，当所述上盖封盖在所述夹具壳体的上端时，所述压片抵接所述功率器件。
6.根据权利要求1至5任一项所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述显示结构包括若干个显示器。
7.根据权利要求6所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述温控器位于所述柜体上。
8.根据权利要求7所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述柜体的下端面设有若干个滚轮。
9.根据权利要求8所述的存储器芯片的动态老化测试装置，其特征在于，所述老化板上设有双核处理器，所述双核处理器与所述显示结构连接。
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