[发明专利]转子位置测量结构、电机及提高转子位置测量精度的方法在审
申请号: | 201911402950.6 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN110932483A | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 舒杰;郭伟 | 申请(专利权)人: | 科博达技术股份有限公司 |
主分类号: | H02K11/215 | 分类号: | H02K11/215;H02K11/01;H02K11/02;H02P23/14 |
代理公司: | 上海华祺知识产权代理事务所 31247 | 代理人: | 刘卫宇 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转子 位置 测量 结构 电机 提高 精度 方法 | ||
1.一种转子位置测量结构,包括转子、磁铁以及转子位置传感器,所述磁铁安装在所述转子的一端,并跟随所述转子一起转动;所述转子位置传感器与所述磁铁相对设置,其特征在于,所述转子位置测量结构还包括磁屏蔽环;所述磁屏蔽环固定设置于所述转子位置传感器与所述磁铁之间,所述磁屏蔽环的中心通孔正对所述磁铁,且所述中心通孔与所述磁铁的形状和大小一致。
2.根据权利要求1所述的转子位置测量结构,其特征在于,所述转子位置传感器为巨磁阻角度传感器。
3.根据权利要求1所述的转子位置测量结构,其特征在于,所述磁屏蔽环固定于电机的壳体。
4.根据权利要求1或3所述的转子位置测量结构,其特征在于,所述磁屏蔽环的材质为坡莫合金。
5.一种提高电机的转子位置测量精度的方法,其特征在于,所述电机具有如权利要求1至4任意一项所述的转子位置测量结构,所述提高电机的转子位置测量精度的方法包括以下步骤:
a、使电机匀速旋转;
b、控制器对所述电机的转子位置检测传感器输出的反映转子位置的正弦电压信号Uy和余弦电压信号Ux进行采样,获得多个采样点的正弦电压信号数据和余弦电压信号数据;
c、对所述多个采样点的正弦电压信号数据与余弦电压信号数据进行归一化处理,使正弦电压信号数据的幅值与余弦电压信号数据的幅值相等;
d、根据校正后的多个采样点的正弦电压信号数据和余弦电压信号数据通过计算得到多个采样点的实际测量的转子角度,建立多个转子转动周期的实际测量转子角度与采样点的对应关系;
e、将多个转子转动周期的实际测量转子角度与采样点的对应关系分别与标准的转子角度与采样点的对应关系进行比较,获得多个转子转动周期的转子角度测量误差与采样点的对应关系;
f、根据多个转子转动周期的转子角度测量误差与采样点的对应关系,获得转子角度测量误差平均值与一个转子转动周期内的转子角度的对应关系;
g、对转子角度测量误差平均值数据进行拟合,得到转子角度测量误差平均值与转子角度的拟合函数并保存,所述的转子角度测量误差平均值与转子角度的拟合函数用于对电机实际工作时所检测到的转子角度进行补偿。
6.根据权利要求5所述的提高转子位置测量精度的方法,其特征在于,其特征在于,所述的步骤g中用正弦函数对转子角度测量误差平均值数据进行拟合。
7.根据权利要求5所述的提高转子位置测量精度的方法,其特征在于,所述采样点的数量大于等于1800个,采样时间大于等于10个转子转动周期。
8.一种电机,其特征在于,包括控制器以及如权利要求1至4任意一项所述的转子位置测量结构;
所述控制器存储有所述电机的转子角度测量误差平均值与转子角度的拟合函数,所述拟合函数是根据权利要求5至7中任意一项的方法获得。
9.一种提高电机的转子位置测量精度的方法,其特征在于,所述电机具有如权利要求8所述的结构,所述提高电机的转子位置测量精度的方法包括如下步骤:
a、控制器获取转子位置传感器输出的反映转子位置的正弦电压信号Uy和余弦电压信号Ux;
b、控制器对获取的当前正弦电压信号数据与当前余弦电压信号数据进行归一化处理,使当前正弦电压信号数据的幅值与当前余弦电压信号数据的幅值相等;
c、控制器实时计算当前的转子角度检测值;
d、控制器根据转子角度测量误差平均值与转子角度的拟合函数获得当前的转子角度检测值对应的误差值,将该误差值补偿当前的转子角度检测值,得到补偿后的转子角度。
10.根据权利要求9所述的提高转子位置测量精度的方法,其特征在于,在所述的步骤b中,控制器是利用前面一个或多个转子转动周期检测到的正弦电压信号数据与余弦电压信号数据对当前检测到的正弦电压信号数据和余弦电压信号数据进行归一化处理。
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