[发明专利]一种测试毫米波雷达多径条件下性能的装置及方法

权利要求书

1.一种测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，其特征在于：包括，

腔体(100)，所述腔体(100)内部中空且被测对象设置于所述腔体(100)内部；

延迟模拟单元(200)，设置于所述腔体(100)内部，用于接收所述被测对象发出的电磁波，并将所述电磁波增加延迟后反射至所述被测对象；

磁力搅拌单元(300)，设置于所述腔体(100)内部，用于不断搅拌干扰所述电磁波。

2.根据权利要求1所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，其特征在于：所述腔体(100)设置为混响室，四周为金属壳体，且内壁面光滑，呈全封闭状态。

3.根据权利要求1所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，其特征在于：所述延迟模拟单元(200)设置为雷达模拟器，包括接收天线(201)和发射天线(202)，所述接收天线(201)接收所述被测对象发出的电磁波，所述发射天线(202)将所述电磁波反射至所述被测对象。

4.根据权利要求3所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，其特征在于：所述接收天线(201)和所述发射天线(202)包括，

根据λ＝c/f得出，f越大，λ越短，

所述接收天线(201)和所述发射天线(202)尺寸越小，

其中，λ为波长，c为光速，f为频率。

5.根据权利要求4所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，其特征在于：所述接收天线(201)和所述发射天线(202)还包括，

当f为79GHz时，λ为毫米波，所述接收天线(201)和所述发射天线(202)尺寸为λ/n，

其中，n为整数倍。

6.根据权利要求1所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，其特征在于：所述磁力搅拌单元(300)为两块挡板，两块所述挡板在所述腔体(100)中无规则运转，且不干扰所述延迟模拟单元(200)的运行。

7.根据权利要求1所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，其特征在于：外部设置有检测校准单元(400)，所述检测校准单元(400)为基本线束和网络分析仪，用于装置的日常校准。

8.一种测试毫米波雷达多径条件下性能的方法，其特征在于：包括，

在腔体(100)中安装好被测对象、延迟模拟单元(200)和磁力搅拌单元(300)；

通过检测校准单元(400)进行装置的日常校准；

所述被测对象、所述延迟模拟单元(200)和所述磁力搅拌单元(300)正常工作，其中，所述磁力搅拌单元(300)不断搅拌，所述延迟模拟单元(200)接收所述被测对象发出的电磁波，并将所述电磁波增加延迟后反射至所述被测对象；

实现所述被测对象的性能测量。

9.根据权利要求8所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的方法，其特征在于：所述磁力搅拌单元(300)包括两块挡板，且依据实际模拟的外场情况设置搅拌。

10.根据权利要求所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的方法，其特征在于：所述延迟模拟单元(200)包括接收天线(201)和发射天线(202)，所述接收天线(201)和所述发射天线(202)的尺寸根据λ＝c/f得出，f越大，λ越短，尺寸越小。