[发明专利]一种具有错误注入和可移植性的芯片验证方法及验证平台

权利要求书

1.一种具有错误注入和可移植性的芯片验证方法，其特征在于，包括：

建立具有独立封装且可移植性的amba_agent模块和amba_mdl_agent模块，模拟驱动的函数分别构建write_task函数和read_task函数，用以发送符合 amba总线协议时序的写操作和读操作；其中，amba_agent模块和amba_mdl_agent模块分别为amba总线代理模块和amba总线代理仿真模块；

对芯片的ip模块进行错误注入，通过amba_agent模块和amba_mdl_agent模块中相应的write_task函数和read_task函数将产生错误的配置信息写至对应寄存器并读取寄存器中的错误指示位，同时发送至参考模型reference中；

利用计分板scoreboard记录amba_agent模块和amba_mdl_agent模块从dut和仿真模型mdl中读取的寄存器中的信息，再与参考reference输出的信息比较，以验证数据传输及错误检测正确性；

所述对芯片的ip模块进行错误注入，通过amba_agent模块和amba_mdl_agent模块中相应的write_task函数和read_task函数将产生错误的配置信息写至对应寄存器并读取寄存器中的错误指示位的过程为：

对芯片的ip模块进行错误注入，随机产生需验证模块dut错误传输的寄存器相关配置位，通过amba_agent模块的write_task函数配置相应寄存器，产生错误注入，通过read_task函数读取错误注入后寄存器中相应的错误指示位；

随机选择配置位取反或不取反,调用amba_mdl_agent模块中write_task函数配置仿真模型mdl相应寄存器，利用amba_mdl_agent中的read_task函数读取寄存器相关信息；

在dut与mdl的寄存器配置位相反的情况下，等待通过amba_agent中read_task函数读取到寄存器中的错误指示位，并将寄存器信息传输给计分板scoreboard记录；再次随机寄存器的配置，发起新的传输，产生各种可能的错误或正确传输的交替情况，实现错误的随机性产生；

在dut与mdl的寄存器配置位相同的情况下，dut和mdl采用相同的寄存器配置，将不会产生错误传输，此时在计分板scoreboard中监测到开始传输时，则随机产生一个数值，若为偶数则采用force操作来强制取反mdl输出给dut的信号线，产生传输错误；若为奇数，则不作操作，进行正确的传输。

2.如权利要求1所述的具有错误注入和可移植性的芯片验证方法，其特征在于，所述amba_agent模块和amba_mdl_agent模块均包含高性能总线接口、可扩展总线接口和外围总线接口。

3.如权利要求1所述的具有错误注入和可移植性的芯片验证方法，其特征在于，在配置相同的情况下进行多次传输，并且每次都判断在计分板scoreboard中随机产生数值的奇偶性，确定是否进行force操作，随机错误的发生。

4.如权利要求1所述的具有错误注入和可移植性的芯片验证方法，其特征在于，在计分板scoreboard中记录需验证模块dut与仿真模型mdl的寄存器配置情况和信号线force情况。

5.如权利要求1所述的具有错误注入和可移植性的芯片验证方法，其特征在于，所述具有错误注入和可移植性的芯片验证方法，还包括：

通过amba_agent模块的读操作，读取相关寄存器对应错误指示位，判断当前传输错误的置位情况，并传输给计分板scoreboard，根据记录进行错误指示的二次判断。