[发明专利]基于参数隔离的烧结非优运行性能原因追溯方法及系统

权利要求书

1.基于参数隔离的烧结非优运行性能原因追溯方法，其特征在于，包括：

步骤一：对烧结终点的时间序列数据和检测参数的时间序列数据进行预处理；

步骤二：将运行性能评价等级为“优秀”的案例集成为案例库；

步骤三：依次隔离检测参数，求取隔离参数后的待分析案例的匹配案例；

步骤三具体包括：

S31、待分析案例是指的运行性能等级为“很差”的案例，对于待分析案例的检测参数时间子序列共有m个检测参数，表示为X_A＝{P₁,P₂,...,P_m}，每个检测参数时间子序列的长度为n，P_i＝{p₁,p₂,...,p_n}，i＝1,2,…,m；

S32、对待分析案例隔离检测参数P₁，得到新的检测参数时间子序列，那X_N1中包含m-1个检测参数；

S33、在案例库中找到与X_N1差异最小的案例，作为X_N1的匹配案例X_M1，其中，差异按照下式计算，

其中，P_i^M是匹配案例X_M1中的参数；和是P_i^N和P_i^M的时间序列值，j＝1,2,…,n，i＝1,2,…,m-1，即

S34、按照步骤S32和S33所述方法，依次隔离P₂,P₃,…,P_m，找到隔离参数后的待分析案例X_Ni的匹配案例X_Mi，i＝2,3,…,m；

步骤四：求取待分析案例与匹配案例在各个隔离参数上的差异，将差异最大的隔离参数作为导致非优运行性能的原因；

步骤四具体包括：

S41、求取待分析案例X_A的参数检测P₁与匹配案例X_M1所对应的参数检测P_M1的差异，求取方法如下式，

其中，p_j和是P₁和P_M1的时间序列值，j＝1,2,…,n，即P₁＝{p₁,p₂,...,p_n}，

S42、按照步骤S41的方法，依次求取待分析案例X_A的参数检测P_i与匹配案例X_Mi所对应的参数检测P_Mi的差异d_i，i＝2,3,…,m；

S43、求取d_i，i＝1,2,…,m的最大值，若最大值为d_k，那么P_k就作为导致非优运行性能的主要原因。

2.根据权利要求1所述的基于参数隔离的烧结非优运行性能原因追溯方法，其特征在于，步骤一具体包括：

剔除传感器故障和停机情况引起的零检测数据，数据的采样间隔设置为30秒，对于烧10结终点的时间序列数据和检测参数的时间序列数据，选择每个时间子序列的长度为10分钟，包含20个数据点。

3.根据权利要求1所述的基于参数隔离的烧结非优运行性能原因追溯方法，其特征在于，步骤二具体包括：

S21、求取烧结终点时间子序列的过程能力指数，表示为，

其中，USL和LSL是烧结终点的规格上限和下限，T是期望的烧结终点平均值，是烧结终点时间子序列的估计平均值，是烧结终点时间子序列的标准差；

S22、根据过程能力指数的数值大小来划分运行性能等级，

如果则运行性能等级为“优秀”；

如果则运行性能等级为“良好”；

如果则运行性能等级为“一般”；

如果则运行性能等级为“较差”；

如果则运行性能等级为“很差”；

S23、将所有运行性能等级为“优秀”的烧结终点时间子序列对应的检测参数时间子序列作为“优秀”案例，得到案例库。

4.基于参数隔离的烧结非优运行性能原因追溯系统，其特征在于，包括：处理器及存储设备；所述处理器加载并执行存储设备中的指令及数据用于实现权利要求1～3任一所述的基于参数隔离的烧结非优运行性能原因追溯方法。