[发明专利]一种带自检装置的光检测系统及自检方法

说明书

本发明提供一种带自检装置的光检测系统，包括：用于聚合光线的聚光部件，设置在所述聚光部件一端的探测器以及设置在所述聚光部件一侧用于对所述探测器进行自检测的第一自检装置。通过在聚光部件侧面设置一个自检装置，用于系统中探测器的自检，当系统出现检测异常时，通过单独的对探测器进行检测判断，可以容易的判断出异常的原因，方便了用户对系统的维护。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种带自检装置的光检测系统及自检方法。

背景技术

在光能量探测领域，当被测物距离探测器较远并且发光能量相对较弱时，需要在被测物和探测器之间使用聚光光路，尽可能的收集被测物发出的光，使其入射到探测器上，通常该聚光光路有两种型式，导光棒方式和聚光透镜方式，其中导光棒聚光具有聚光效率高、出射光斑均匀、导光距离长等优点，当光电传感器感光面较大(如光电倍增管)并且要求聚光效率较高的场合需要使用导光棒方式聚光，但是导光棒聚光要求导光棒两个端面距离发光面和探测器表面越近越好，导致光轴区域几乎全部被导光棒占据，而一般该种检测系统为了保证测值的准确性，需要设计自检光源，一般该自检光源放置于导光棒前端的光轴处，但是当系统发生故障时，如测值衰减时，无法确定是导光棒污染导致还是光电传感器本身灵敏度下降导致，如果需要确定光学系统故障的具体原因，仅使一路自检光路不经过导光棒直照射到光电传感器上，这将使设计变得十分困难。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种带自检装置的光检测系统及自检方法，旨在解决现有技术中光检测系统出现异常时，异常原因难以判断的问题。

本发明为解决上述技术问题所采用的技术方案如下：

第一方面，一种带自检装置的光检测系统，其中，包括：用于聚合光线的聚光部件，设置在所述聚光部件一端的探测器以及设置在所述聚光部件一侧用于对所述探测器进行自检测的第一自检装置。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，还包括用于对光检测系统进行自检的第二自检装置，所述第二自检装置设置在所述聚光部件的另一端。

可选地，所述第一自检装置包括第一自检光源、设置在所述第一自检光源出光面一侧的第一光电传感器以及设置在所述自检光源光轴上的第一中性衰减片。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，所述第二自检装置包括第二自检光源、设置在所述第二自检光源出光面一侧的第二光电传感器以及设置在所述自检光源光轴上的第二中性衰减片。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，所述聚光部件为导光棒或聚光透镜。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，所述第二自检装置设置在所述聚光部件的光轴上。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，所述第一自检光源发出的光与所述聚光部件的光轴之间的夹角为45-60度。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，所述第一自检光源为LED光源、所述第二自检光源为LED光源。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，所述第一光电传感器为光电池，所述第二光电传感器为光电池。

可选地，所述的带自检装置的光检测系统，其中，所述探测器为用于光能量检测的光子计数器。

有益效果：本发明提供一种带自检装置的光检测系统，包括：用于聚合光线的聚光部件，设置在所述聚光部件一端的探测器以及设置在所述聚光部件一侧用于对所述探测器进行自检测的第一自检装置。通过在聚光部件侧面设置一个自检装置，用于系统中探测器的自检，当系统出现检测异常时，通过单独的对探测器进行检测判断，可以辅容易的判断出异常的原因，方便了用户对系统的维护。

附图说明