[发明专利]一种带自检装置的光检测系统及自检方法

权利要求书

1.一种带自检装置的光检测系统，其特征在于，包括：用于聚合光线的聚光部件，设置在所述聚光部件一端的探测器以及设置在所述聚光部件一侧用于对所述探测器进行自检测的第一自检装置；

还包括用于对光检测系统进行自检的第二自检装置，所述第二自检装置设置在所述聚光部件的另一端；所述第二自检装置设置在所述聚光部件的光轴上；

所述第一自检装置包括第一自检光源、设置在所述第一自检光源出光面一侧的第一光电传感器以及设置在所述第一自检光源光轴上的第一中性衰减片；

所述第二自检装置包括第二自检光源、设置在所述第二自检光源出光面一侧的第二光电传感器以及设置在所述第二自检光源光轴上的第二中性衰减片；

所述光检测系统的自检方法包括：打开所述第二自检光源，所述第二自检光源发出的光一部分照射到所述第二光电传感器上，用于所述第二自检光源能量的检测，一部分光穿过所述聚光部件照射到所述探测器感光面，用于整个光检测系统性能自检，若检测到所述探测器测量值异常，关闭所述第二自检装置，开启所述第一自检装置，对所述探测器进行自检，若第一自检装置检测结果显示正常时，则所述聚光部件出现故障；

对所述探测器进行自检的方法包括：打开第一自检光源，所述第一自检光源发出的光一部分照射到所述第一光电传感器上，用于所述第一自检光源能量的检测，一部分光相对聚光部件光轴倾斜照射到所述探测器上，用于所述探测器的性能检测；若检测到所述探测器故障，说明光检测系统故障原因为所述探测器故障或所述探测器故障和所述聚光部件同时故障；若检测到所述探测器无故障，说明光检测系统故障原因为所述聚光部件导致；

所述聚光部件为导光棒或聚光透镜。

2.根据权利要求1所述的带自检装置的光检测系统，其特征在于，所述第一自检光源发出的光与所述聚光部件的光轴之间的夹角为45-60度。

3.根据权利要求1所述的带自检装置的光检测系统，其特征在于，所述第一自检光源为LED光源、所述第二自检光源为LED光源。

4.根据权利要求1所述的带自检装置的光检测系统，其特征在于，所述第一光电传感器为光电池，所述第二光电传感器为光电池。

5.根据权利要求1所述的带自检装置的光检测系统，其特征在于，所述探测器为用于光能量检测的光子计数器。