[发明专利]一种用于考试阅卷监测的动态分析数据处理系统及方法在审

专利信息
申请号: 201911349701.5 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN111161111A 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 陈杰永;梁发盛;陈超鸿;柯维海 申请(专利权)人: 广东德诚大数据科技有限公司
主分类号: G06Q50/20 分类号: G06Q50/20;G06Q10/06;G06F16/901;G06F16/903
代理公司: 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 代理人: 张焕响
地址: 526070 广东省肇庆市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 考试 阅卷 监测 动态 分析 数据处理系统 方法
【说明书】:

一种用于考试阅卷监测的动态分析数据处理系统,包括获取模块、计算模块、图表绘制模块、查询模块。所述获取模块与所述计算模块连接,所述计算模块与所述查询模块双向连接,所述计算模块与所述图表绘制模块连接,所述查询模块与所述图表绘制模块连接。同时本发明还提供了一种用于考试阅卷监测的动态分析数据处理方法,不仅可以针对每个题块和每个评卷员,准确动态跟踪题块和阅卷老师的阅卷给分数据,实时分析出阅卷老师的阅卷质量,配合多个阅卷监测指标进行精准定位检测,从而有效确保控制阅卷的给分质量。

技术领域

本发明涉及考试阅卷监测技术领域,特别是涉及一种考试阅卷监测的动态分析数据处理系统及方法。

背景技术

在考试阅卷中,准确把控评分质量是一个世界性的难题,为了能解决主观题部分的评分质量监控问题,需要建立评卷员阅卷质量评价体系、方法和模型,用以规范和约束评卷员工作程序和操作模式。现有技术的缺陷和不足是不能准确动态跟踪评卷员的评卷给分数据并实时分析出评卷员的评卷质量。所以,如何能实时准确监控阅卷质量是一个亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提供一种用于考试阅卷监测的动态分析数据处理方法,以弥补目前阅卷系统评卷监测技术的不足。

为实现上述目的,本发明提供了如下方案:一种用于考试阅卷监测的动态分析数据处理系统,包括获取模块、计算模块、图表绘制模块和查询模块。

所述获取模块与所述计算模块连接,所述计算模块与所述查询模块双向连接,所述计算模块与所述图表绘制模块连接,所述查询模块与所述图表绘制模块连接。

所述获取模块,用于在阅卷过程中从数据库服务器实时获取各个题块的阅卷老师的阅卷分数,并记录获取此阅卷分数的时间点;

所述计算模块,用于根据监测指标来计算各个题块的阅卷老师的阅卷分数,统计根据各个题块的阅卷老师给分分数的给分分布、各个给分分点上的数量;所述监测指标包括:各个题块的平均分及标准差、阅卷老师评阅各个题块的工作量、平均分、标准差;

所述图表绘制模块,用于根据计算模块的计算结果绘制图表,所述图表包括各个题块的各个阅卷老师的工作量、平均分、标准差的对比柱状图和题块上各个给分分点的给分分布图;

所述查询模块,用于查询一段时间内题块和阅卷老师的阅卷分数情况,然后向图表绘制模块发送信号,图表绘制模块绘制此时间段内的对比柱状图和给分分布图。

同时本发明还公开了一种用于考试阅卷监测的动态分析数据处理方法,包括如下步骤:

在阅卷过程中,获取模块从数据库服务器实时获取各个题块的阅卷老师的阅卷分数,并且记录获取此阅卷分数的时间点;具体步骤为:阅卷过程中,阅卷系统把各个题块的阅卷老师的阅卷分数存储到数据库服务器,并向获取模块发送反馈,获取模块接收到反馈信号后从数据库服务器中获取各个题块的阅卷老师的阅卷分数,当有新的阅卷分数增加到数据库服务器后,获取模块会接收到阅卷系统的反馈信号,然后从数据库服务器中获取新的阅卷分数;获取模块还会记录获取每一个阅卷分数的时间点。

计算模块根据监测指标来计算各个题块的阅卷老师的阅卷分数,统计根据各个题块的阅卷老师给分分数的给分分布、各个给分分点上的数量;所述监测指标包括:各个题块的平均分及标准差、阅卷老师评阅各个题块的工作量、平均分及标准差;具体步骤为:计算模块根据监测指标来计算各个题块的阅卷老师的阅卷分数,所述监测指标包括各个题块的平均分及标准差、阅卷老师评阅各个题块的工作量、平均分、标准差;当获取模块获取到新的阅卷分数后,计算模块先判断该阅卷分数是属于哪个题块,再判断是哪个阅卷老师,然后将此新的阅卷分数添加至该题块该阅卷老师名下,该阅卷老师的工作量加1,再重新计算该阅卷老师在该题块的平均分、标准差及工作量,及该题块的平均分和标准差,并根据各个题块的阅卷老师给分分数的给分分布统计在各个给分分点上的数量。

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