[发明专利]用于医疗设备检查参数自动校对的方法、装置及系统在审
申请号: | 201911348542.7 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN111128360A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 于宁;周彬;程超;赵雪飞;刘政;张文渊;彭奇斌;郝从洋;陈鹏 | 申请(专利权)人: | 北京绪水互联科技有限公司;华中科技大学同济医学院附属协和医院 |
主分类号: | G16H40/40 | 分类号: | G16H40/40 |
代理公司: | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 李彬彬;许春兰 |
地址: | 102600 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 医疗 设备 检查 参数 自动 校对 方法 装置 系统 | ||
本发明公开一种医疗设备检查参数自动校对方法,其包括配置参数特征库存储,参数特征库包括有检查参数基准信息;获取校对数据源进行解析,确定检查对象信息存储;实时获取检查参数信息,根据检查参数信息、检查对象信息和参数特征库的检查参数基准信息对当前获取的检查参数信息进行校验处理,并根据校验处理结果输出提醒消息。根据本发明公开的方法可以实现在操作技师操作医疗设备的过程中,对设置的检查参数进行实时的检测和校对,并做到在检查发生前及时进行提醒,以防止因检查参数有误产生的不良后果和影响。
技术领域
本发明涉及医疗设备监管技术领域,特别是一种用于医疗设备检查参数自动校对的方法、装置及系统。
背景技术
目前,使用影像设备辅助医疗诊断已经是很常用的技术手段。在医疗机构使用影像设备对患者进行检查时,所选取的检查参数,以MRI(磁共振)为例,比如序列的选取及排列组合,以CT(X线断层扫描)为例,比如KV、mA的选取及排列组合,均对检查结果的诊断价值以及医疗决策影响重大。如果设备操作技师因种种原因(技术水平问题、误操作等)选取了不当参数,轻则会导致图像不可用,需浪费设备和人员时间及相关耗材重新进行扫描。而且,对X线设备而言,重新扫描意味着在短时间内病人需要接受过量的X线照射,存在放射剂量超标的风险。而选取了不当参数时,严重的情况下还可能会发生图像质量不符合诊断要求,进而引发错误的医疗决策,甚至导致医疗事故发生的危险。可见,对影像设备参数的正确和合理设置,至关重要。然而,现有的影像设备仅仅在使用手册中对操作方法和参数的选取进行说明,并不能对操作过程进行监测和校验,参数设置的合理性和准确性完全靠操作技师自己把握,且无法对操作过程中的参数进行追溯,因而检查结果的可靠性严重依赖设备操作技师的操作水平和细心程度,在科学性和准确性上有待完善和提升。
发明内容
本发明的目的之一在于,提供一种能够智能地、自动地对设备操作技师的操作过程中的参数设置进行监测和检查的解决方案,以辅助操作技师选取合理和准确的检查参数,进而保证检查结果的准确性,以达到在可能发生问题前,给出提示和修改建议,防止因操作技师的参数选取问题导致上述缺陷产生的不良。
本发明的另一目的还在于,对操作技师的参数设置进行永久性存档,以备在发生问题时进行追溯,从而避免引发错误医疗决策等危险。
为此,根据本发明的第一个方面,提供了一种医疗设备检查参数自动校对方法,其包括如下步骤:
配置参数特征库存储,参数特征库包括有检查参数基准信息;
获取校对数据源进行解析,确定检查对象信息存储;
实时获取检查参数信息,根据检查参数信息、检查对象信息和参数特征库的检查参数基准信息对当前获取的检查参数信息进行校验处理,并根据校验处理结果输出提醒消息。
根据本发明的第二个方面,提供了一种用于医疗设备检查参数的自动化校对的装置,其包括:
第一数据接口,用于获取校对数据源进行解析,确定检查对象信息存储;
第二数据接口,用于实时获取检查参数信息;
存储有检查参数基准信息的参数特征库;和
校验模块,用于根据检查参数信息、检查对象信息和参数特征库的检查参数基准信息对当前获取的检查参数信息进行校验处理,并根据校验处理结果输出提醒消息。
根据本发明的第三个方面,提供了一种用于医疗设备检查参数的自动化校对的装置,其包括:
第一数据接口,用于获取校对数据源进行解析,确定检查对象信息存储;
第二数据接口,用于实时获取检查参数信息;
第三数据接口,用于从外部获取预先配置的检查参数基准信息;和
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