[发明专利]一种光纤测试设备的布点方法、存储介质及光纤测试系统

说明书

本发明提出一种光纤测试设备的布点方法，包括：按各节点最大链路跳数内所连接的待测试光纤数或待测备用纤芯数，确定初始测试设备布设点；罗列从该选定节点到所有其他节点的、由各光纤链路首尾相接而成的全部候选测试通路集合M，建立整数线性规划优化模型，求出最优的测试通路分配方案，确定为各候选测试通路分配的纤芯数；然后选择新的测试设备布设点继续测试其余待测光纤或备芯，直到达成测试目的；本发明还提出一种存储介质及一种光纤测试系统，确定纤芯串接方式，降低光纤测试设备布设点数量，且又能保证通过测试设备布点测试最多的光纤数或备用纤芯数，确立备用纤芯的连接方式，从而实现工作光纤或备用纤芯的自动驳接。

技术领域

本发明涉及信息通信系统的光纤测试技术领域，更具体地，涉及一种光纤测试设备的布点方法、存储介质及光纤测试系统。

背景技术

光通信网络曾经主要用于国家级、省级及跨地区行业信息网络的骨干网，随着网络应用需求的不断增长及光纤通信技术的不断成熟，光纤传输网络技术下沉，光纤通信设备成本下降，使得光纤通信网络逐渐普及到地、市级行业通信网络甚至城市的居民小区。作为光纤通信网络传输媒介的光纤，一般埋设于地下专用管道，容易因施工损坏、震动、环境剧变、自然老化等原因而不能正常传输信息，因此，对已铺设的光纤进行检测是网络运营维护的一项重要工作。

在光纤制造时，出于对成本及光纤可靠性的考虑，通常每根光纤均做成多芯的，现役的通信网络往往只利用了多芯光纤中的部分纤芯，仍有相当一部分备用纤芯被闲置。因为同一根光纤中的不同纤芯处于几乎完全相同的周围工作环境，因此，通过对闲置的备用纤芯进行测量，可以对现役工作纤芯的情况作出判断，而同时又不影响工作纤芯的正常工作。

光时域反射(optical time domain reflection，OTDR)技术是对光纤进行测量的一种主要技术。通过考察某种适合波长的单色光脉冲在光纤内传播过程中不断被反射回来的脉冲幅度衰耗情况，可以判断光纤是否存在断裂、老化现象及熔接、转接等环节的质量。通过分析反射脉冲与原激励脉冲的时间差，还能判断出断裂、熔接、转接接头与测试设备间的距离。进一步，结合预知的光纤铺设地图，可以计算出断裂或性能变差部件的位置，为避免盲目动土、降低修复成本奠定基础。从测量的角度，基于光时域反射技术的光纤检测方法，允许将同一根光纤或不同光纤的备用纤芯通过熔接或专用接头前后串接起来，这样可以通过一次测量而实现对多根备用纤芯测量的目的。在目前OTDR检测技术水平下，只要前后串接光纤纤芯总长不超过150km，就能对所串接的所有纤芯及接头的情况得出可靠的测量结果。

然而，对于一个规模较大的光纤通信网络而言，网络的运营维护是一项长期艰巨的工作，通常选定大量的光纤测试设备布点后，再配备大量的专业测试维护人员，这种做法需要较高的测试维护成本。

综上所述，提出一种光纤测试设备的布点方法、存储介质及光纤测试系统，降低光纤测试设备布设点数量及对专业测试维护人员的依赖，且又能保证通过测试设备布点测试最多的光纤或备用纤芯数十分有必要。

发明内容

为克服现有进行光纤测试时，光纤测试设备布点多，对专业测试维护人员数量的需求高，造成光纤网络测试的维护成本高的弊端，本发明提出一种光纤测试设备的布点方法、存储介质及光纤测试系统，降低光纤测试设备布设点数量及对专业测试维护人员的依赖，且又能保证通过测试设备布点测试最多的光纤数或备用纤芯数，通过光纤测试系统进一步确立备用纤芯的连接方式，从而实现工作光纤或备用纤芯的自动驳接。

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。

为了达到上述技术效果，本发明的技术方案如下：

一种光纤测试设备的布点方法，所述方法包括以下步骤：

S1.输入待测试光纤通信网络的光纤测试设备布点优化所需参数；