[发明专利]一种光纤测试设备的布点方法、存储介质及光纤测试系统

权利要求书

1.一种光纤测试设备的布点方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

S1.输入待测试光纤通信网络的光纤测试设备布点优化所需参数；

S2.计算待测试光纤通信网络中光纤链路的平均间距D，求得网络拓扑结构中每个候选节点q被允许的最大试探链路跳数T，T表示不超过L/D的正整数，L表示最大测试光纤总长度；

S3.计算每个候选节点q至其最大试探链路跳数T对应T跳链路内的全部测试通路上的待测光纤链路数S_a或待测备用纤芯数S_b，选取待测光纤链路数S_a或待测备用纤芯数S_b最大时对应的节点k作为初始光纤测试设备的布设点，k＝1，...，q，...P，P表示待测试光纤通信网络的节点总数；

S4.以节点k至网络拓扑结构中所有其他节点首尾相接的候选测试通路集合M为基础，以候选测试通路集合M对应的待测光纤链路数S_a1最大或待测备用纤芯数S_b1最大为目标函数，建立整数线性规划模型Z；以候选测试通路集合M对应的待测光纤链路数S_a1最大为目标函数时，整数线性规划模型Z₁为：

1)目标函数：

maxS_a1(X)＝F_t·X

其中，S_a1(X)表示候选测试通路集合M对应的待测光纤链路数S_a1的函数形式；X表示第一决策变量，X＝[x₁，...，x_j，...，x_w]^T，w表示候选测试通路集合M的测试通路条数，x_j取0或1，表示候选测试通路集合M的第j个测试通路上的并行光纤链路数目，x_j取0表示贯穿第j个测试通路的并行光纤链路不存在，x_j取1表示贯穿第j个测试通路的并行光纤链路存在；F_t为行向量，F_t＝[ft₁，...，ft_j，...，ft_w]，ft_j表示第j个测试通路所途经 的所有光纤链路数；

2)约束条件：

GX≤R

其中，G是一个N行w列矩阵，N表示待测试光纤通信网络中光纤链路的总条数，w表示候选测试通路集合M的测试通路条数；对于任何一条光纤链路i，G_ij取0或1，当第i条链路被第j条测试通路经过时，G_ij取1，否则G_ij为0；R＝[R₁，...，R_i，...，R_N]^T，R_i＝1表示第i条链路尚未被测试，R_i＝0表示第i条链路此前已被测试；

以候选测试通路集合M对应的待测备用纤芯数S_b1最大为目标函数时，整数线性规划模型Z₂为：

1)目标函数：

maxS_b1(Y)＝F_t·Y

其中，S_b1(Y)表示候选测试通路集合M对应的待测备用纤芯数S_b1的函数形式；Y表示第二决策变量，Y＝[y₁，...，y_j，...，y_w]^T，w表示候选测试通路集合M的测试通路条数，y_j取0或正整数t，表示候选测试通路集合M的第j个测试通路分配的并行备用纤芯数目，y_j取0表示贯穿第j个测试通路的备用纤芯不存在，y_j取正整数t，则表示贯穿第j个测试通路的拟测量备用纤芯数目为t；F_t为行向量，F_t＝[ft₁，...，ft_j，...，ft_w]，ft_j表示第j个测试通路所途经的所有光纤链路数；

2)约束条件：

QY≤H

其中，Q是一个N行w列矩阵，N表示待测试光纤通信网络中光纤链路的总条数，w表示候选测试通路集合M的测试通路条数；对于任何一条光纤链路i，Q_ij表示第i条链路被测试通路j经过的次数；H＝[H₁，...，H_i，...，H_N]^T，H_i表示第i条链路尚未被测试的备用纤芯数目；

S5.求解整数线性规划模型Z，得到整数线性规划模型Z的最优解，计算最优解对应的候选测试通路集合M对应的待测光纤链路数S_a1或待测备用纤芯数S_b1，输出每个已测试通路的路径及每个测试通路测试的光纤链路数S_w1或备用纤芯数Si₁，修改各候选测试通路所途经每条光纤链路i的剩余待测备用纤芯数Si₂；

S6.判断所有各光纤链路i的剩余待测备用纤芯数S_i2之和是否大于0，若是，返回步骤S3确定下一个光纤测试设备布设点；否则，光纤测试设备的布点优化过程结束。