[发明专利]一种辐照装置剂量坐标体系建立方法

说明书

本发明涉及一种辐照装置剂量坐标体系建立方法，具体方法步骤包括：⑴托箱坐标及层次划分；⑵确定剂量计放置位置；⑶产品装载；⑷利用蒙特卡洛统计模型进行数据处理分析。本发明方案是天津金鹏源多年研究，基于BFT‑Ⅱ型钴‑60辐照装置剂量场测定试验方案，创新研发的试验方法和装置，以此来确定辐照装置的加工能力、剂量不均匀度是否满足设计要求，进而确定主控时间设置和日常辐照加工工艺及加工中剂量计监测位置的选择。设计科学合理、结构简单、可操作性强，通过具体的机械结构具化辐照剂量坐标体系，方便试验操作，满足重复试验的需求，且适用于多规格托箱、剂量计的使用，确保实验数据的精准度，为后续的建模数据分析提供有效精准的数据支持。

技术领域

本发明属于辐照加工领域，涉及辐照剂量标定，尤其是一种辐照装置剂量坐标体系建立 方法。

背景技术

辐照是借助电离辐射的高能量、强穿透性等特性来消毒灭菌、抑制或促进生长、改变物 质性状的一种技术，辐照技术提供的非接触式、冷加工环境，为很多易污染、热敏产品提供 了新的净化途径，同时也为新材料、新能源的研发提供了新的选择。

食品、药品、农产品等的辐照灭菌过程，需要完善的质量控制体系，辐照加工的质量控 制，除微生物检测及感官性状考察外，在电离辐射方面主要通过剂量测量来实现。

目前剂量测定的方法都是跟踪法。通常采用化学或物理剂量计跟踪产品辐照，即将剂量 计贴附在产品箱上或置于产品内，待产品辐照作业完成后取出剂量计进行测定，推算出产品 吸收剂量值。

现有技术中的测定方法存在一定的缺点：

一是辐照前布放剂量计以跟踪产品整个辐照过程，不能事后补救；

二是一只剂量计只能代表一个位点，如果有些位点不好布放剂量计或放置的位点不准确 或剂量计打碎或丢失，则得不到需要的结果；

其三，大型辐照站每天辐照10000箱以上产品，剂量计布放工作量大，耗时耗力，为了 满足客户的质量要求，即使选择常规剂量监测点来监控产品辐照工艺是否严格执行，每天都 要支出一笔可观的剂量检测费。

故建立辐照装置计量坐标体系，确定托箱的剂量分布、以及最小与最大吸收剂量区以此 来确定辐照装置的加工能力、剂量不均匀度，进而确定主控时间设置和日常辐照加工工艺及 加工中剂量计监测位置的选择都具有重要的研究意义。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足之处，提供一种设计科学合理，体系建立标准化 且利用具象的试验装置实现的一种对辐照加工计量剂选择具有重要指导意义的辐照装置剂量 坐标体系建立方法。

本发明解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：

一种辐照装置剂量坐标体系建立方法，具体方法步骤如下：

⑴托箱坐标及层次划分：以托箱最先进入辐照室的高度方向的边线的最低位置为坐标原 点(0，0，00)，以托箱宽度方向为X轴，长度方向为Y轴，高度方向为Z轴，在试验托箱中放置测试坐标内套，将装置的X轴、Y轴及Z轴与托箱宽度方向为X轴，长度方向为Y轴， 高度方向为Z轴相对应；

⑵确定剂量计放置位置：根据试验设定分别设定X、Y、Z轴的坐标点，确定并在基于辐 照剂量坐标体系建立的装置内固定好试验用剂量计的位置；

⑶产品装载：将模拟产品均匀充分装满托箱，将试验托箱推入辐照装置，进行剂量分布 标定；

⑷利用蒙特卡洛统计模型进行数据处理分析。

而且，所述步骤⑶中模拟产品的密度为0.1g/cm³、0.2g/cm³、0.3g/cm³。