[发明专利]屏幕漏光检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201911331059.8 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN113008524B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 田野;李小明;黄春来;孙旺;张海涛 申请(专利权)人: 合肥欣奕华智能机器股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 230013 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 屏幕 漏光 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种屏幕漏光检测方法,其特征在于,包括:

获取待检测屏幕的灰度显示图像;

根据所述灰度显示图像提取所述待检测屏幕的显示区轮廓;

获取所述灰度显示图像中位于所述显示区轮廓外部的目标区域,所述目标区域内各像素的灰度值大于或等于第一阈值;以及,

从所述灰度显示图像中剔除所述目标区域,得到检测图像;

根据所述检测图像确定所述待检测屏幕的漏光区域,其中,

根据所述检测图像确定所述待检测屏幕的漏光区域,包括:

对所述检测图像进行对比度拉伸,获得拉伸后的检测图像;

设定检测边界缩进参数,从所述拉伸后的检测图像中获取所述待检测屏幕的从显示区轮廓向内延伸的延伸区域图像;

对所述延伸区域图像进行中值滤波,得到中值滤波图像;

差分所述中值滤波图像和所述延伸区域图像,得到差分后图像;以及,

对所述差分后图像进行灰度阈值分割,确定所述漏光区域。

2.根据权利要求1所述的屏幕漏光检测方法,其特征在于,还包括:

确定掩模信息,所述掩模信息包括遮挡区的位置信息和特征信息;

根据所述掩模信息控制所述待检测屏幕的漏光区域的输出。

3.根据权利要求2所述的屏幕漏光检测方法,其特征在于,所述位置信息包括像素坐标,所述特征信息包括像素灰度;

根据所述掩模信息控制所述待检测屏幕的漏光区域的输出,包括:

根据公式控制所述待检测屏幕的漏光区域的输出;其中,f(x,y)为控制所述待检测屏幕的漏光区域是否输出的控制信号,(x,y)为目标像素的像素坐标,pos(x,y)为所述漏光区域的像素坐标,Mpos(x,y)为所述遮挡区的像素坐标的集合,fe(x,y)为所述漏光区域的像素灰度,Mfe(x,y)为所述遮挡区的像素灰度的集合。

4.根据权利要求1所述的屏幕漏光检测方法,其特征在于,获取所述灰度显示图像中位于所述显示区轮廓外部的目标区域,包括:

根据所述待检测屏幕的显示区轮廓,从所述灰度显示图像中提取所述显示区轮廓的外部图像;

对所述显示区轮廓的外部图像进行灰度阈值分割,获取所述目标区域。

5.根据权利要求1所述的屏幕漏光检测方法,其特征在于,在根据所述灰度显示图像提取所述待检测屏幕的显示区轮廓之前,还包括对所述灰度显示图像进行预处理,所述预处理包括:傅里叶变换以及高斯滤波。

6.根据权利要求5所述的屏幕漏光检测方法,其特征在于,根据所述灰度显示图像提取所述待检测屏幕的显示区轮廓,包括:

对预处理后的所述灰度显示图像进行对比度拉伸;

根据对比度拉伸后的灰度显示图像提取所述待检测屏幕的显示区轮廓。

7.根据权利要求1~6任一项所述的屏幕漏光检测方法,其特征在于,根据所述灰度显示图像提取所述待检测屏幕的显示区轮廓,还包括:

对所述灰度显示图像进行灰度阈值分割,获取至少一个连通域图;

从所述至少一个连通域图中提取面积最大的连通域图作为所述待检测屏幕的显示区轮廓。

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