[发明专利]一种环境金属杂质的测定方法

说明书

本申请公开了一种环境金属杂质的测定方法，包括将具有预设重量和预设开口面积的取样容器开口朝上置于待测环境中，接收空气中落下的粒子，持续预设时间；称量所述取样容器的重量，得到沉积的粒子重量；利用与所述沉积的粒子重量相匹配的体积的酸溶液将所述粒子中的金属杂质溶解成金属离子；测试所述金属离子的浓度，计算单位时间和单位开口面积内沉降的金属杂质的含量。上述环境金属杂质的测定方法，能够在低成本的基础上，检测出环境中金属杂质的含量及其变化量，给生产提供更为精确的数据支持。

技术领域

本发明属于光伏设备制造技术领域，特别是涉及一种环境金属杂质的测定方法。

背景技术

光伏设备制造要用到多晶硅，而在多晶硅的后处理洁净管控中，金属元素中的Fe、Cr、Ni、Cu、Zn等元素属于深能级杂质，对多晶硅的下游使用影响较大，所以对多晶硅包装过程中表面金属杂质的控制尤为重要。现有的控制手法为使用空调滤芯高效过滤，来控制某特定区域内的空气粒子个数，从而实现环境的空气洁净管控，常见的有千级、万级、十万级等，但对空调过滤后的空气粒子中的金属元素的检测手段缺失，所以研发一种对环境中金属杂质进行测试的方法就显得尤为重要。

现有技术中，常见的是采用在线粒子收集装置来对金属杂质进行收集并检测，但是这种方式需要用的滤膜比较昂贵，这就导致检测成本非常高，并不适合多晶硅的生产场合。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种环境金属杂质的测定方法，能够在低成本的基础上，检测出环境中金属杂质的含量及其变化量，给生产提供更为精确的数据支持。

本发明提供的一种环境金属杂质的测定方法包括：

将具有预设重量和预设开口面积的取样容器开口朝上置于待测环境中，接收空气中落下的粒子，持续预设时间；

称量所述取样容器的重量，得到沉积的粒子重量；

利用与所述沉积的粒子重量相匹配的体积的酸溶液将所述粒子中的金属杂质溶解成金属离子；

测试所述金属离子的浓度，计算单位时间和单位开口面积内沉降的金属杂质的含量。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，在所述将具有预设重量和预设开口面积的取样容器开口朝上置于待测环境中之前，还包括：

将硅块放入所述取样容器中。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，所述硅块的尺寸为长宽高的范围为20毫米至30毫米。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，所述酸溶液为浓度为5％的氢氟酸和硝酸体积比为1:1的混酸。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，利用ICP-MS设备测试所述金属离子的浓度。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，所述利用酸溶液将所述粒子中的金属杂质溶解成金属离子为：

将所述酸溶液加热至70摄氏度至100摄氏度，持续30分钟至45分钟，将所述粒子中的金属杂质溶解成金属离子。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，所述取样容器的直径范围为80毫米至100毫米。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，所述预设时间的范围为2小时至24小时。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，在所述接收空气中落下的粒子，持续预设时间之后，还包括：

利用盖子将所述取样容器盖好。

优选的，在上述环境金属杂质的测定方法中，所述取样容器为FEP取样筒。