[发明专利]显示面板缺陷等级数据上报的方法、系统及判级报废方法有效

专利信息
申请号: 201911320389.7 申请日: 2019-12-19
公开(公告)号: CN111079380B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 邢朝帅 申请(专利权)人: 苏州精濑光电有限公司
主分类号: G06F40/126 分类号: G06F40/126
代理公司: 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙) 32299 代理人: 陈瑞泷
地址: 215100 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 缺陷 等级 数据 上报 方法 系统 报废
【说明书】:

发明涉及显示面板缺陷等级数据上报的方法、系统及判级报废方法,包括:对显示面板划分后的子面板进行编号;判定每个编号对应的所述子面板的缺陷等级;获取缺陷等级满足上报条件的对应子面板的编号;按照所述编号的顺序,将所述编号及其对应的缺陷等级依次编码为预设格式的数据串;将各所述数据串按照所述编号的顺序逐次上报。本发明可以解决现有技术中对玻璃基板中各子面板的缺陷报废判定的漏判或误判的问题。

技术领域

本发明属于显示面板检测技术领域,尤其是涉及一种显示面板缺陷等级数据上报的方法、系统及判级报废方法。

背景技术

在液晶显示面板的生产过程中,产品检查是整个生产中的重要环节。液晶面板的检查包括微观检查、宏观检查以及数据测试,这三种检查相互支持。宏观检查机向玻璃基板投射光线,检查人员通过玻璃基板所反射的光线配合不同的角度对玻璃基板进行宏观检查,如检测面板是否存在涂布不均、亮暗点、异物、划伤等缺陷。

玻璃基板在宏观检查设备上完成检测之后,对检测出异常的子面板会进行标记,并上报给系统服务器,便于下游设备识别玻璃基板中某异常的子面板,并有针对性地进行切割报废处理。

现有的检测异常上报方式,是将检测到的整块玻璃基板的所有异常信息一次性上传至系统服务器,系统服务器根据接收到的异常信息,判定哪块子面板异常,然后进行切割报废。这种上报方式,很容易造成漏判或误判,导致把质量良好的子面板切除报废,造成极大的浪费,增加成本;或者将质量异常的子面板保留,不利于后续生产。

发明内容

本发明要解决的技术问题是:解决现有技术中对玻璃基板中各子面板的缺陷报废判定的漏判或误判的问题。

为解决上述技术问题,本发明提供了一种显示面板缺陷等级数据上报的方法、系统及判级报废方法,本发明通过依次检测各个子面板的缺陷,判定缺陷等级,并按顺序依次上传各个子面板对应的缺陷等级数据,有利于系统服务器准确判定需要报废的子面板,极大地降低了漏判或误判的可能性。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:

本发明第一方面提供了一种显示面板缺陷等级数据上报的方法,包括:

对显示面板划分后的子面板进行编号;

判定每个编号对应的所述子面板的缺陷等级;

获取缺陷等级满足上报条件的对应子面板的编号;

按照所述编号的顺序,将所述编号及其对应的缺陷等级依次编码为预设格式的数据串;

将各所述数据串按照所述编号的顺序逐次上报。

进一步地,根据本发明第一方面所述的显示面板缺陷等级数据上报的方法,所述缺陷等级分为O、X、R三个等级,其中,O表示质量良好;X表示严重缺陷,需要报废;R表示一般缺陷,需要再次检测确定是否报废;且X或R等级需要上报;

所述获取缺陷等级满足上报条件的对应子面板的编号,包括:

确定缺陷等级为X或R的子面板;

获取所述缺陷等级为X或R的子面板的编号。

进一步地,根据本发明第一方面所述的显示面板缺陷等级数据上报的方法,所述的缺陷等级数据采用ASCII码编码为二进制数。

进一步地,根据本发明第一方面所述的显示面板缺陷等级数据上报的方法,所述缺陷等级O被编码为二进制数0,所述缺陷等级X被编码为二进制数1,所述缺陷等级R被编码为二进制数10。

进一步地,根据本发明第一方面所述的显示面板缺陷等级数据上报的方法,所述数据串包括第一子数据串和第二子数据串,所述第一子数据串包含前一编号的子面板的缺陷等级数据,所述第二子数据串包含当前编号的子面板的缺陷等级数据。

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