[发明专利]基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法

说明书

本发明公开了一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，多点触摸与遥控共用检测控制系统包括触摸IC、触摸按键、MCU芯片和遥控接收IC，检测控制方法通过触摸IC和遥控接收IC共用第三引脚与MCU芯片连接，MCU芯片根据触摸按键响应的时长和遥控接收IC发送的码段信号的时长不同，来识别两种信号的输入，做到两者不受干扰影响，触摸IC还设置数据传输引脚SDA和时钟信号引脚SCL配合，实现与MCU芯片之间的识别和数据传输，从而实现区分具体被触摸的触摸按键，通过对控制端口和检测端口进行共用处理，达到节省脚位的目的。

技术领域

本发明涉及电路控制领域，特别涉及一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法。

背景技术

在多点触摸控制多种负载工作的产品中，对MCU芯片的较为需求较大，常常需要扩展MCU芯片的脚位，同时还会增大产品的成本的体积。若有的MCU芯片的脚位无法扩展，则大大限制了其功能。

发明内容

本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，通过对控制端口和检测端口进行共用处理，达到节省脚位的目的。

根据本发明第一方面实施例提供一种基于多点触摸与遥控共用检测控制系统的检测控制方法，所述多点触摸与遥控共用检测控制系统包括：

触摸IC，设置有数据传输引脚SDA、时钟信号引脚SCL、工作表现引脚INT和若干个按键输入端；

触摸按键，设置有若干个，通过输入电阻连接所述按键输入端；

MCU芯片，设置有第一引脚、第二引脚和第三引脚，所述数据传输引脚SDA通过第一电阻连接所述第一引脚，所述时钟信号引脚SCL通过第二电阻连接所述第二引脚，所述工作表现引脚INT通过第三电阻连接所述第三引脚；任一所述触摸按键被触摸时，所述工作表现引脚INT表现为低电平，所有所述触摸按键未被触摸时，所述工作表现引脚INT表现为高电平；每次所述触摸按键被触摸的响应时间大于100ms；

遥控接收IC，设置有遥控信号输出引脚IR，所述遥控信号输出引脚IR连接所述第三引脚；所述遥控接收IC没有接收到信号时，所述遥控信号输出引脚IR表现为高电平，所述遥控接收IC接收到信号时，所述遥控信号输出引脚IR表现为低电平，且发送总长不超过20ms的带有通信协议的码段信号给所述第三引脚；

所述检测控制方法包括以下步骤：

所述MCU芯片对所述第三引脚进行微秒级检测，若检测到所述第三引脚为低电平，开始计时；

若所述第三引脚在微秒级别内变化为高电平，则判断为接收所述遥控接收IC发送的码段信号；

继续接收所述码段信号，并对接收到的所述码段信号进行解码处理；

若所述第三引脚的低电平持续时间超过100ms，则判断为所述触摸按键被触摸；

所述MCU芯片通过所述第二引脚输出一个高低变化的时钟信号给所述触摸IC，同时通过所述第一引脚输出一个地址码给所述触摸IC；

所述触摸IC写入所述地址码后，通过所述数据传输引脚SDA回送一个包含所述按键输入端的状态的状态码给所述MCU芯片；

所述MCU芯片根据所述状态码判断出被触摸的触摸按键。