[发明专利]一种平面间距尺寸测量装置及使用方法在审

专利信息
申请号: 201911303028.1 申请日: 2019-12-17
公开(公告)号: CN110926335A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 曹源;陈杰;付红珍;王鑫;何思武 申请(专利权)人: 中船重工中南装备有限责任公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/14
代理公司: 宜昌市慧宜专利商标代理事务所(特殊普通合伙) 42226 代理人: 夏冬玲
地址: 443005 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 间距 尺寸 测量 装置 使用方法
【说明书】:

一种平面间距尺寸测量装置及使用方法,包括底座,底座一端设有第一滑块,所述底座两侧设有凹槽块,凹槽块上设有压板,所述凹槽块设有导轨,导轨一端与支座连接,所述支座一端设有第二滑块;所述第一滑块抵靠在被测物体端面上,通过导轨在凹槽块内滑动调节第二滑块抵靠在被测物体另一端面上进行测量;根据待测量尺寸,调整导轨使测量及检测装置处于合适尺寸范围内后,锁紧调整螺钉,即可测量出待测量尺寸的精确尺寸;在测量一些长度较长的零、部件时,可使用绳索连接拖拉环缓慢拖动本测量及检测装置,即可测量出尺寸数据;本装置尤其对一些长度较长且内部狭小的半封闭结构,能提供高精度、稳定的测量结果,且能够伸缩,使用范围大。

技术领域

发明涉及测量工具领域,尤其是涉及一种平面间距尺寸测量装置及使用方法。

背景技术

在一些零部件间距尺寸测量中,经常会出现以下情况,造成测量困难或无法测量:a.因需测量尺寸过大,且精度要求较高,往往没有合适的测量工具或相应测量工具操作复杂,对使用者技术要求较高,带来较多不变;b.一些半封闭结构件长度较长,内部尺寸需逐段测量来判定零部件是否合格,人工测量耗时耗力,且因使用者技术水平不同误差较高;c.一些长度较长且内部狭小的半封闭结构,当内部某一尺寸需逐段测量来判定该尺寸是否合格时,人工检测往往只能测量口部位置尺寸,中间尺寸较难或无法测量。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种平面间距尺寸测量装置及使用方法,解决在测量和检测尺寸过大、形状复杂、空间狭小物体尺寸问题。

为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是:一种平面间距尺寸测量装置及使用方法,包括底座,底座一端设有第一滑块,所述底座两侧设有凹槽块,凹槽块上设有压板,所述凹槽块设有导轨,导轨一端与支座连接,所述支座一端设有第二滑块。

优选方案中,所述底座内设有第一激光位移传感器,所述支座的内部第二激光位移传感器。

优选方案中,还设有电路采集板,电路采集板与第一激光位移传感器和第二激光位移传感器电连接。

优选方案中,所述电路采集板设在盖板左与盖板右形成的空腔内。

优选方案中,所述盖板右上设有凹槽,凹槽内设有锂电池,凹槽上设有电池盖,所述锂电池与电路采集板电连接。

优选方案中,所述压板上设有调整螺钉,调整螺钉穿过压板抵靠在导轨上。

优选方案中,所述第一滑块一侧设有拖拉环。

使用方法包括:S1、根据间距两个测量面的形状,选择匹配的第一滑块与第二滑块;

S2、调整第一激光位移传感器距第一滑块端面为零位;

S3、调整第二激光位移传感器距第一滑块端面为零位;

S4、将第一滑块端面抵靠在待测面一端;

S4、滑动第二滑块至待测面另一端;

S5、锁紧调整螺钉,固定第二滑块位置;

S6、人员测量第一滑块与第二滑块之间的距离加上第一激光位移传感器与第二激光位移传感器的感应距离,即为待测面之间的距离。

本发明提供了一种平面间距尺寸测量装置及使用方法,滑块根据测量面实际情况配做,以应对测量检测不同形状的物体,导轨、支座和第二激光位移传感器可沿凹槽块长度方向滑动,从而调整测量行程,根据待测量尺寸,调整导轨使测量装置处于合适尺寸范围内后,锁紧调整螺钉,即可测量出待测量尺寸的精确尺寸,本测量装置能够测量平面间距尺寸,尤其对一些长度较长且内部狭小的半封闭结构,能提供高精度、稳定的测量结果,且能够伸缩,使用范围大,适合推广使用。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明:

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