[发明专利]高峰值功率1550nm激光二极管芯片及制备方法在审
| 申请号: | 201911259265.2 | 申请日: | 2019-12-10 |
| 公开(公告)号: | CN110957636A | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
| 发明(设计)人: | 曲轶;任永学;李再金;赵志斌;乔忠良;李林 | 申请(专利权)人: | 海南师范大学 |
| 主分类号: | H01S5/32 | 分类号: | H01S5/32;H01S5/026 |
| 代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 曹鹏飞 |
| 地址: | 571158 *** | 国省代码: | 海南;46 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 峰值 功率 1550 nm 激光二极管 芯片 制备 方法 | ||
本发明涉及一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片及制备方法,该芯片包括多个PN结、高掺杂电阻区和N型衬底;多个PN结从下到上依次叠加;每两个PN结之间通过高掺杂电阻区连接;N型衬底位于最低层PN结的下方;如果没有高掺杂电阻区,会导致上一个的n结连接到下一个的p结,二极管呈反向状态,电流无法正向导通,而该芯片中增加高掺杂电阻区,实现了芯片中上下两个PN结的级联,使其量子效率大大提高,可以在注入较少电流的情况下发出较强的光功率,实现了发光芯片的功率密度的增加。
技术领域
本发明涉及光电子芯片技术领域,特别涉及一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片及制备方法。
背景技术
现有激光传感、激光测距领域多用905nm、850nm、760nm半导体激光,对于人眼安全具有隐患,空气中衰减也比较严重;不利于实际应用。为了实现人眼安全激光、大气传输窗口的应用,开发1550nm半导体激光芯片,而现有技术中是采用多个单层发光激光芯片的物理堆叠,物理堆叠会引起发光区尺寸增大,没有增加功率密度,反而使应用过程中的光学尺寸增加。
因此,如何增加发光芯片的功率密度成为了同行从业人员亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于,提出一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片及制备方法,解决现有技术中通过物理叠加来增强发光,但是其功率密度并不能得到提高的问题。
为了解决上述技术问题,第一方面,本发明实施例提供一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片,包括:多个PN结、高掺杂电阻区和N型衬底;
所述多个PN结从下到上依次叠加;任意相邻两个PN结通过所述高掺杂电阻区连接;
所述n型衬底位于最低层PN结的下方。
在一个实施例中,所述PN结包括:N型波导层、发光区、P型波导层;
所述发光区位于所述N型波导层和P型波导层之间。
在一个实施例中,所述高掺杂电阻区由N型高掺杂区和P型高掺杂区组成;所述N型高掺杂区位于和P型高掺杂区的上方;
所述高掺杂电阻区的总厚度范围为15nm±2nm。高掺杂区的厚度应该尽可能薄一些,可以更容易实现上下两个PN结的级联。
在一个实施例中,所述N型高掺杂区中的InP掺杂浓度范围为4.5×1020cm-3至6.5×1020cm-3,其厚度范围为10-12nm。高掺杂区中的N型高掺杂区不能太薄,应大于其耗尽区的厚度,可更好实现级联。
在一个实施例中,所述P型高掺杂区中的InP掺杂浓度范围为7.5×1018cm-3至8.5×1018cm-3,其厚度范围为3-5nm。高掺杂区中的P型高掺杂区不能太薄,应大于其耗尽区的厚度,可更好实现级联。
第二方面,本发明还提供一种高峰值功率1550nm激光二极管芯片的制备方法,包括:
S1、在N型衬底上从下至上依次生长N型波导层、发光区、P型波导层,完成第一个PN结的生长;
S2、在所述P型波导层上级联生长高掺杂电阻区;
S3、在所述高掺杂电阻区的上方从下至上依次生长N型波导层、发光区、P型波导层,完成下一个PN结的生长;
S4、依次重复步骤S2和S3,直至完成多个PN结的生长。
本发明的优点在于,本发明的一种高峰值功率1550nm半导体激光二极管芯片及制备方法,该芯片在传统的单层发光基础上,使用高掺杂区实现多个PN结互联,通过芯片内部发光层的纳米堆叠实现高峰值功率输出。
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