[发明专利]一种多普勒雷达芯片验证方法及其装置

说明书

本发明提供一种多普勒雷达芯片验证方法及其装置，其解决了现有多普勒雷达芯片验证过程中，验证成本高、效率低、测试系统可移植性较差、测试用例的可重用性较低的技术问题。其设有主控系统、射频开关、调频器、衰减器以及测试机台，主控系统分别与调频器、射频开关、测试机台连接，调频器的输出端与衰减器的输入端相连，调频器与射频开关连接。本发明可广泛应用于多普勒雷达芯片的检测中。

技术领域

本发明涉及一种芯片验证方法及其装置，特别是涉及一种多普勒雷达芯片验证方法及其装置。

背景技术

多普勒雷达芯片是一种以多普勒频移为基本原理并采用集成电路的理念设计出的微波信号处理集成电路，常与各式各样的射频天线搭配使用，构成多普勒雷达模组，可以迅速对运动目标做出响应，广泛应用于智慧照明、安防探测、自动驾驶以及智能家居等领域，随着应用场景的复杂化，对多普勒雷达芯片的品质提出了更高的要求。

对多普勒雷达芯片品质的更高要求使得芯片功能的验证更为重要，并且验证要覆盖芯片的全部工作状态。目前对于多普勒雷达的测试，大都采用机械装置模拟运动目标，观察其对不同状态的响应判断功能是否正常。机械结构的状态不易在短时间内做出改变，因此单一产品的测试周期过长，测试过程易受外界干扰，从而很难保证测试结果的准确性。这使得多普勒雷达芯片的设计和验证面临着更高的挑战，传统的验证方法已经很难满足对大规模芯片进行高效率的验证，如何保证验证的完备性、高效性、准确性以及验证系统的普遍适用性是当前多普勒雷达芯片验证面临着的最大问题。

此外，目前的测试系统可移植性较差，测试用例的可重用性较低，针对不同的芯片及测试机台，开发人员要设计不同的测试系统，浪费了大量的时间和精力。

发明内容

本发明针对现有多普勒雷达芯片验证过程中，验证成本高、效率低、测试系统可移植性较差、测试用例的可重用性较低的技术问题，提供一种验证成本低、效率高、普遍适用性高的多普勒雷达芯片验证方法及其装置。

为此，本发明的技术方案是，一种高效的多普勒雷达芯片验证装置，设有主控系统、射频开关、调频器、衰减器以及测试机台，主控系统分别与调频器、射频开关、测试机台连接，调频器的输出端与衰减器的输入端相连，调频器与射频开关连接；

主控系统用于测试过程的控制、数据采集及处理；

测试机台可以与主控系统进行信息交互；

调频器可以对信号的频率进行调整，用于模拟运动目标带来的多普勒频移；

衰减器可以对调频器输出的信号进行衰减，并且衰减的倍数灵活可调。

优选的，调频器选用调整精度高的，要求能够在GHz的频率上叠加Hz级的频偏，并且对频率的调整量可以由主控系统控制。

优选的，射频开关的工作状态可由主控系统自动控制。

一种多普勒雷达芯片验证方法，步骤包括：

步骤S1：主控系统控制射频开关处于开路状态，模拟没有反射信号的状态，对芯片输出管脚进行采样，判断芯片无反射信号时输出是否正常，若采样显示芯片输出正常，则执行步骤S2，若不能正常响应，则发出芯片异常处置信号；

步骤S2：主控系统控制射频开关处于闭合状态，控制调频器对频率的调整量为0，模拟有反射信号但没有运动目标的状态，对芯片的功能输出管脚进行采样，判断芯片在有反射信号但没有运动目标的状态下输出是否正常，若采样显示芯片输出正常，则执行步骤S3，若不能正常响应，则发出芯片异常处置信号；