[发明专利]测量仪器有效
| 申请号: | 201911218236.1 | 申请日: | 2019-12-03 |
| 公开(公告)号: | CN111380465B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
| 发明(设计)人: | 小池保;船越胜也;菊地麻衣子 | 申请(专利权)人: | 富士通电子零件有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 胡海滔 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测量 仪器 | ||
一种测量仪器,该测量仪器读取测量件,测量件包括在测量件的长度方向上布置的多个读取图案,每个读取图案包括在测量件的宽度方向上布置的多个图案,测量仪器包括:整平构件,其增加测量件的平坦度;以及第一读取器,在通过整平构件增加平坦度的状态下,第一读取器从测量件光学读取单个读取图案中包含的在宽度方向上布置的多个图案。
技术领域
本发明涉及一种测量仪器。
背景技术
已知一种测量物体长度的测量仪器(例如,参见日本专利公开号61-230012和日本未审查实用新型公开号62-128302和2-5009)。在测量仪器中,图案形成在测量件的一个表面上,并且利用读取器读取图案。
发明内容
例如,在建筑工地使用的测量仪器中,可以通过弯曲金属测量件的横截面来确保金属测量件的柔性和直立性。但是,测量件的曲率降低了读取器对图案的光学读取精度。同样,当待光学读取的测量件扭曲时,读取器对图案的读取精度可能会降低。
本公开的目的是提供一种可以提高测量精度的测量仪器。
根据本公开的第一方面,提供了一种测量仪器,该测量仪器读取测量件,测量件包括在测量件的长度方向上布置的多个读取图案,每个读取图案包括在测量件的宽度方向上布置的多个图案,测量仪器包括:整平构件,其增加测量件的平坦度;以及第一读取器,在通过整平构件增加平坦度的状态下,第一读取器从测量件光学读取单个读取图案中包含的沿宽度方向布置的多个图案。
根据本公开的第二方面,提供了一种测量仪器,该测量仪器读取测量件,测量件包括在测量件的宽度方向上布置的多个图案,测量仪器包括:第一读取器,其光学读取多个图案;以及校正器,其校正由第一读取器读取的信号以补偿在提供多个图案的位置处的测量件与第一读取器之间的多个距离之间的差异。
根据本公开的第三方面,提供了一种测量仪器,该测量仪器读取测量件,测量件包括在测量件的长度方向上布置的多个读取图案,每个读取图案包括在测量件的宽度方向上布置的多个图案,测量仪器包括:第一读取器,其光学读取在宽度方向上布置的多个图案;第二读取器,其光学读取在长度方向上布置的多个图案;以及校正器,其基于第二读取器的读取结果来校正从第一读取器的读取结果获得的长度。
发明效果
根据本发明,可以提高测量精度。
附图说明
图1是示出根据第一实施例的测量仪器的框图;
图2A和图2B是示出该测量仪器的横截面图;
图3是示出测量件上设置的图案的示例的图;
图4是示出读取器的布置的图;
图5A是示出多个图案的放大图;
图5B是示出单个图案的放大图;
图6是示出表格的图;
图7A和图7B是示出测量件的透视图;
图8A是示出根据第一比较示例的测量件和读取器的横截面图;
图8B和图8C是示出第一实施例的测量件和读取器的横截面图;
图9是示出卷筒和测量件的横截面图;
图10是示出根据第二实施例的测量仪器的横截面图;
图11是示出读取器和测量件的示意图;
图12A是测量仪器中的壳体的俯视图;
图12B是测量仪器中的壳体的侧视图;
图12C是沿着图12A的线A-A截取的横截面视图;
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