[发明专利]一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法在审
申请号: | 201911198474.0 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN112881448A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 彭岳峰;王永明;王建军;吴小亮;李志强;岳腾霄;黄其州;王孝恩;吴清涛;丁光振;覃磊;李海涛;薛翔;张陈材 | 申请(专利权)人: | 海南核电有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N3/40;G01N33/2022;G01N33/204 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 张雅丁 |
地址: | 572733*** | 国省代码: | 海南;46 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 热套式 双金属温度计 保护 套管 质量 复验 方法 | ||
本发明属于核电厂设备检验技术领域,具体涉及一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法。包括五个步骤,步骤一,对热套式双金属温度计保护套管进行材质测定;步骤二,进行里氏硬度测试;步骤三,进行硬度换算;步骤四,进行金相检验;步骤五,观察其显微组织结构,做出判断。本发明是一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法,通过就地硬度测试及经验换算公式进行理论换算,按照《GB1220‑2016不锈钢棒》中规定的硬度验收,再通过不损伤工作面方式的现场金相检验,开展微观组织结构观察与评级,可获取置信度极高的套管材料性能值,从而整体判断套管的材料质量。
技术领域
本发明属于核电厂设备检验技术领域,具体涉及一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法。
背景技术
核电厂需要实时监测海水系统的温度,采用双金属温度计进行测量,双金属温度计采用316L材质的保护套管,保护双金属温度计不受海水腐蚀。
若固溶处理充分、质量可靠,316L材质的不锈钢套管具有很好的耐海水腐蚀的性能。
热套式双金属温度计保护套管的抗海水腐蚀性能取决于套管的材料性能指标,核电采购技术规范中要求保护套管的材料性能试验项目包括化学成分分析、拉伸试验(包括室温拉伸和高温拉伸试验)、KV冲击试验,均为必须在实验室实施的破坏性试验;
采购技术规范要求的无损检测(包括液体渗透检验、超声检验)虽然是无损的,但并不能反映双金属温度计保护套管的抗腐蚀性能。《GB1220-2016不锈钢棒》中规定的化学成分、拉伸试验、冲击试验、硬度(布氏硬度、洛氏硬度或维氏硬度中的1种)、耐腐蚀试验、低倍组织检验、非金属夹杂物检验、晶粒度检验,均为必须在实验室实施的破坏性试验;《GB1220-2016不锈钢棒》无针对不锈钢里氏硬度的验收要求。
出于对热套式双金属温度计保护套管质量复验的需要,同时为了保证套管的完整性,研究发明一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法,验证海水系统双金属温度计保护套管的材料质量。
发明内容
针对以上不足,本发明的主要目的是提供一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法,解决了无法实施破坏性试验获取热套式双金属温度计保护套管质量材料性能值的问题。
本发明的技术方案如下:
一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法,包括五个步骤,步骤一,对热套式双金属温度计保护套管进行材质测定;
步骤二,进行里氏硬度测试;
步骤三,进行硬度换算;
步骤四,进行金相检验;
步骤五,观察其显微组织结构,做出判断。
一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法,所述步骤一,对热套式双金属温度计保护套管进行材质测定;
按照GB/T35734-2017《便携式管激发X射线荧光分析仪分类、安全要求及其试验》,对热套式双金属温度计保护套管进行材质测定,选取保护套管顶部六角头中端面任意3个点、保护套管管身任意3个点,使用便携式光谱仪测量材质,并与《GB1220-2016不锈钢棒》中的化学成分进行比较。
一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法,所述步骤二,进行里氏硬度测试;
任意选取保护套管顶部六角头中的1个侧面和端面,表面抛光后,使用夹具夹紧套管,测试时被测面保持水平,每个面上随机选取3个点,按照GB/T 17394.1-2014《金属材料里氏硬度试验第1部分:试验方法》进行里氏硬度测试,记录实测值和算术平均植。
一种热套式双金属温度计保护套管质量复验方法,所述步骤三,进行硬度换算;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海南核电有限公司,未经海南核电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911198474.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体结构的形成方法
- 下一篇:量测机台水箱的控制方法及系统