[发明专利]一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置有效

专利信息
申请号: 201911192482.4 申请日: 2019-11-28
公开(公告)号: CN110798223B 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 詹文法;陶鹏程;蔡雪原;邵志伟;彭勇;张振林;丁文祥;彭登辉;华铭;都奕 申请(专利权)人: 安庆师范大学
主分类号: H03M7/46 分类号: H03M7/46
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 张景云
地址: 246133 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 最小 游程 切换 标记 编码 压缩 方法 装置
【说明书】:

本发明涉及一种最小游程切换点标记编码压缩方法,包括S1、将测试向量进行均匀划分成若干组区域;S2、将区域中的所有测试向量进行编码压缩,压缩后继续压缩下一组区域中的测试向量,直至全部区域压缩;S3、将该组区域的测试向量压缩后,继续读取下一组区域,重复执行步骤S2;直到最后一个区域压缩完成。本发明还公开了一种最小游程切换点标记编码压缩装置。本发明针对测试向量与测试向量之间游程的关系进行压缩,极大缩短了编码字的数量,有效得提高了压缩率。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域,尤其是一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置。

背景技术

集成电路测试技术是保障集成电路产品良品率关键因素,是集成电路制造全过程中必不可少的过程。随着集成电路的工艺水平不断提高,促使芯片的集成度不断提高,截至2012年级别的晶体管处理器已经得到商用。由于技术规模不断扩大,集成电路的复杂程度也不断提高,这也为集成电路测试带来了巨大挑战,虽然全扫描测试可以提高电路的可控制性和可观察性,但却增加了大量的测试时间,从而提高了测试成本。高昂的测试成本严重阻碍了集成电路的发展,因此减少测试成本一直是集成电路研究的热点问题。如果想降低测试成本,就有在设备使用周期内尽可能多的测试芯片。测试数据压缩只改变数据容量,而不改变故障覆盖率,是解决上述问题的有效方法之一。

“CN101299611B”的发明专利公开了一种基于集合游程的数据压缩方法,包括:读取计算机存储器中的待压缩数据;寻找数据中的特征字符集合;进行编码;将压缩后的数据存入计算机存储器;所述寻找数据中的特征字符集合包括以下步骤:统计孤立字符;判断是否存在孤立字符,是则执行下步,否则将所有字符都化为特征字符,每个特征字符映射的连续出现次数为其数值本身,并转入上述编码步骤;将孤立字符从小到大进行排序;遍历所有特征字符集合可能出现的各种元素个数,选取使压缩率r的取值达到最小的特征字符集合元素的个数;将特征字符集合中的每个元素映射到连续出现次数。但是该专利并没有考虑到最小向量游程切换范围的重叠关系,这对压缩率会有一定的不良影响。

常规的测试数据压缩方法中,利用编码字后缀表示游程长度的限制压缩数据,导致了压缩率较低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置,以解决现有技术中利用编码字后缀表示游程长度的限制压缩数据,导致了压缩率较低的问题。

本发明通过以下技术手段实现解决上述技术问题的:

一种游程切换点标记编码压缩方法,包括以下步骤:

S1、将若干个测试向量分别进行均匀划分,得到若干组区域;

S2、将每组区域中的所有测试向量进行编码压缩;得到压缩后的数据;

S3、将一组区域的测试向量压缩后,继续读取下一组区域,重复执行步骤S2;直到所有区域压缩完成。

通过将若干个测试向量划分成若干组区域,再依次对每组区域进行压缩,实现对多个测试向量的压缩。

作为本发明进一步的方案:所述若干组区域中,每组区域中有K条测试向量;不足K条测试向量的区域,用全是无关位X的测试向量补充;其中K为大于0的正整数。

通过增加全是无关位X的测试向量补充,来保证每组区域含有的测试向量数量相同,方便进行压缩。

作为本发明进一步的方案:所述步骤S2包括:

S21、首先获取第一组区域中k条测试向量所有的最小游程切换范围,并用最小游程切换点提取算法提取最小游程切换点组成的集合;

S22、然后设置一个位置参考向量;最后对该组区域中k条测试向量编码;

S23、设置游程标记码;

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