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[发明专利]基于测试时间成本动态调整的分项测试方法及装置-CN202310826406.4在审
发明人： 詹文法;郝凯明;潘盼;章礼华;郑江云;张庆平;蔡雪原;梁琦;吴兆旺;余储贤;胡心怡 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了基于测试时间成本动态调整的分项测试方法及装置，所述方法包括：根据当前批次所有测试单元的总测试时间以及测试单元的排序预测下一批次测试时所有测试单元的总测试时间以及测试单元的排序，若预测的下一批次所有测试单元的总测试时间大于等于当前批次总测试时间，则当前测试单元的排序不变，若预测的下一批次所有测试单元的总测试时间小于当前批次总测试时间，则采用预测的下一批次测试单元的排序对所有测试单元进行重新排序；本发明的优点在于：减少测试时间，提高测试效率。
基于测试时间成本动态调整方法装置

[发明专利]基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法-CN202310855996.3在审
发明人： 詹文法;张鲁萍;冯学军;潘盼;章礼华;吴兆旺;梁琦;陈庆庆;郑江云;蔡雪原;胡心怡;郝凯明;余储贤 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2023-07-12 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了基于BP神经网络的集成电路电参数处理方法，包括：采集原有设备的参数数据；采集当前设备的参数数据；对所获取的原有设备以及当前设备的参数数据均进行标准化处理；对原有设备数据运用BP神经网络进行处理后拟合获得第一多项式曲线；对当前设备的数据运用BP神经网络进行回归处理，拟合得到第二多项式曲线；将当前设备和原有设备的数据点进行映射从而对当前设备的数据进行调整，然后对映射后的数据进行拟合处理，得到当前设备的拟合函数，根据原有设备的数据采用该拟合函数推断当前设备的数据；本发明的优点在于：统一测试参数限值标准，提高测试效率。
基于 bp 神经网络集成电路参数处理方法

[发明专利]一种集成电路电性能测试中电参数信号处理方法-CN202310855992.5在审
发明人： 詹文法;张鲁萍;冯学军;蔡雪原;潘盼;章礼华;吴兆旺;梁琦;陈庆庆;郑江云;胡心怡;郝凯明;余储贤 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2023-07-12 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路电性能测试中电参数信号处理方法，包括：采集原有设备的测试限值和电参数数据；对原有设备数据进行数据处理，然后运用最小二乘法对数据进行拟合后获得一个多项式曲线；采集当前设备的测试限值和电参数数据并进行数据处理，然后运用最小二乘法进行数据拟合，得出关于当前设备的数据的函数曲线；将当前设备和原有设备的数据点进行映射从而对当前设备的数据进行调整，然后对映射后的数据进行拟合处理，得到当前设备的拟合函数，根据原有设备的数据采用该拟合函数推断当前设备的数据；本发明的优点在于：统一测试参数限值标准，提高测试效率。
一种集成电路性能测试参数信号处理方法

[发明专利]一种三维堆叠封装芯片的可配置并行测试电路及方法-CN202310335526.4在审
发明人：张庆平;詹文法;潘盼;郑江云;蔡雪原;吴兆旺;梁琦 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明公开了一种三维堆叠封装芯片的可配置并行测试电路及方法，所述测试电路包括可配置边界扫描单元对，所述三维堆叠封装芯片具有多层小芯粒，所述可配置边界扫描单元对包括用于与小芯粒输入端口连接的第一可配置边界扫描单元以及用于与小芯粒输出端口连接的第二可配置边界扫描单元，第一可配置边界扫描单元与第二可配置边界扫描单元通过不同控制信号配置成不同模式，每层小芯粒上设置多个可配置边界扫描单元对，每层小芯粒上的多个可配置边界扫描单元对按照不同模式进行串接，相邻层小芯粒上的可配置边界扫描单元对级联；本发明的优点在于：实现扫描链条数灵活配置，有利于实际应用，且制造成本低。
一种三维堆叠封装芯片配置并行测试电路方法

[发明专利]一种半导体光电器件非接触式特性分项测试设备及方法-CN202310139214.6有效
发明人：潘盼;郝凯明;詹文法;刘清海 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2023-02-10 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体光电器件非接触式特性分项测试设备及方法，包括多个并行测试的测试区，每个所述测试区包括多个测试装置和多个短接装置，所述短接装置包括绝缘的夹具以及固定在夹具下方与之绝缘连接的电感线圈，夹具内固定有导电体，多个短接装置的电感线圈串联并与脉冲电源连接形成第一闭合回路，待测件卡接到所述夹具内且其电极与导电体接触形成第二闭合回路，待测件的发光面正对测试装置的受光方向；本发明的优点在于：装置结构简单，成本低，多个测试区能够并行测试，从而大大提高测试效率。
一种半导体光电器件接触特性测试设备方法

[发明专利]一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置-CN201911192482.4有效
发明人： 詹文法;陶鹏程;蔡雪原;邵志伟;彭勇;张振林;丁文祥;彭登辉;华铭;都奕 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2019-11-28 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： H03M7/46 文献下载
摘要：本发明涉及一种最小游程切换点标记编码压缩方法，包括S1、将测试向量进行均匀划分成若干组区域；S2、将区域中的所有测试向量进行编码压缩，压缩后继续压缩下一组区域中的测试向量，直至全部区域压缩；S3、将该组区域的测试向量压缩后，继续读取下一组区域，重复执行步骤S2；直到最后一个区域压缩完成。本发明还公开了一种最小游程切换点标记编码压缩装置。本发明针对测试向量与测试向量之间游程的关系进行压缩，极大缩短了编码字的数量，有效得提高了压缩率。
一种最小游程切换标记编码压缩方法装置

[发明专利]基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置-CN202010979020.3有效
发明人： 詹文法;华铭;江健生;蔡雪原;冯学军;彭登辉 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2020-09-17 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R31/3183 文献下载
摘要：本发明公开了基于隐马尔可夫模型的电路测试方法、存储介质及装置，所述方法包括：自动测试向量生成工具根据导入的电路结构图随机生成针对该电路的测试向量集；根据随机生成的测试向量集，进行电路测试并基于隐马尔可夫模型判断电路是否温度过高；若电路不存在温度过高问题则直接将测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；若电路存在温度过高问题，对测试向量集进行重排序减少测试向量之间的翻转得到更新的测试向量集，将更新的测试向量集输入到自动测试设备ATE中，进行电路测试；本发明的优点在于：有效控制测试温度，降低了损坏芯片的风险，提高了测试的可靠性。
基于隐马尔可夫模型电路测试方法存储介质装置

[发明专利]基于联合分类的集成电路有效测试模式重选方法及装置-CN202310154645.X在审
发明人： 詹文法;张鲁萍;张庆平;蔡雪原;江健生;郑江云;章礼华;潘盼;孙秀芳;余储贤;胡心怡 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2023-02-17 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了基于联合分类的集成电路有效测试模式重选方法及装置，所述方法包括：生成电路的测试向量集；对电路进行故障注入，判断此电路是否存在故障，并作为目标结果；通过K均值聚类对测试向量集进行预处理，删除无用测试向量，对剩余的测试向量不加权以及多次进行不同加权情况下分别执行mRMR算法，每次执行mRMR算法时计算得到每个测试向量的MIQ值，按MIQ值大小对测试向量进行降序重排得到多组备选特征子集；多组备选特征子集分别输入SVM分类器中，将分类正确率最高的且维数最低的备选特征子集作为最优测试集；本发明的优点在于：减少测试向量冗余，降低测试时间，提高故障芯片的测试效率，有效降低测试成本。
基于联合分类集成电路有效测试模式重选方法装置

[发明专利]一种针对机器翻译的译文评估方法及装置-CN201811306229.2有效
发明人： 詹文法;邵志伟;陶鹏程;张振林;刘德阳 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2018-11-05 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F40/58 文献下载
摘要：本发明公开了一种针对机器翻译的译文评估方法及装置，所述方法包括：获取语料库中的若干条语料，并将每一条语料中包含的上下文词向量的拼接结果；并对所述若干条语料中包含的不同词性的词语的词向量进行初始化；将所述拼接结果以及所述词向量作为CBOW模型的输入，获取训练后的CBOW模型；获取每一条语料的目标词，并使用训练后的CBOW模型进行翻译；获取待评估模型针对所述目标词的译文，并根据所述待评估模型对应的译文与训练后的CBOW模型对应的译文之间的相似度，评估待评估模型译文的准确度。应用本发明实施例，可以自动对译文结果进行准确性评估。
一种针对机器翻译译文评估方法装置

[发明专利]一种数据压缩方法及装置-CN201811306241.3有效
发明人： 詹文法;陶鹏程;邵志伟;江健生;程一飞;冯学军;吴海峰;张振林 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2018-11-05 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： H03M7/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种数据压缩方法，方法包括：1)、获取待压缩向量，并将待压缩的数据切分为若干个等长的数据块；2)、将当前参考向量之后的待压缩向量作为当前待压缩向量；3)、判断对应位置上的数据块之间的相容性；若相容，将数据块的编码值设置为第一码值，更新当前参考向量；若反向相容，将当前待压缩向量的编码值设置为第二码值，更新当前参考向量；若不相容，将当前待压缩向量的编码值设置为第三码值，更新当前参考向量；4)、将当前待压缩向量的下一向量作为当前待压缩向量，并返回执行步骤3)，直至对所有待压缩向量进行了压缩。本发明公开了一种数据压缩装置。应用本发明，避免了相容性减小的技术问题。
一种数据压缩方法装置

[发明专利]一种基于异构C单元的三点翻转自恢复锁存器-CN202210510268.4在审
发明人：黄正峰;宫周宇;李子帅;倪天明;詹文法;宋钛;鲁迎春;李桢旻;刘光柱 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-05-11 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： H03K19/003 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于异构C单元的三点翻转自恢复锁存器，包括信号输入模块、传输模块、矩阵存储模块、内部节点模块、信号输出模块；传输模块包括第一传输门、第二传输门、第三传输门、第四传输门、第五传输门、第六传输门；矩阵存储模块包括第一避错C单元、第一近似C单元、第二避错C单元、第二近似C单元、第三避错C单元、第三近似C单元、第四避错C单元、第四近似C单元、第五避错C单元、第五近似C单元、第六避错C单元、第六近似C单元。本发明提供了一种抗辐射加固锁存器设计，该设计提供完整的单粒子单点、双点、三点翻转自恢复能力，同时本发明减少了由高可靠性设计而带来的锁存器性能、面积、功耗开销。
一种基于单元翻转恢复锁存器

[发明专利]一种基于DICE单元的双工作模式单粒子双点翻转加固锁存器-CN202210568194.X在审
发明人：黄正峰;马东兴;吴文会;詹文法;倪天明;宋钛;鲁迎春;李桢旻;刘光柱 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-05-24 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： H03K19/003 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于DICE单元的双工作模式单粒子双点翻转加固锁存器，包括输入电路、工作模式切换电路、锁存电路、输入信号D、输出节点Q，输入信号D分别与输入电路信号输入端、工作模式切换电路信号输入端电信号连接，输入电路信号输出端分别与锁存电路信号输入端、输出节点Q电信号连接，锁存电路信号输入端还与工作模式切换电路信号输出端电信号连接，锁存电路信号输出端与输出节点Q电信号连接。本发明利用工作模式切换电路让两个异构锁存电路分别在自己对应的工作模式下实现锁存功能，发挥两个异构锁存电路各自的优势，扬长避短，从而实现完全容忍单粒子双点翻转。本发明具有高效的容错性能。
一种基于 dice 单元双工模式粒子翻转加固锁存器

[发明专利]一种有效关键面积参数向量集重排序方法及系统-CN202210421043.1在审
发明人： 詹文法;张鲁萍;江健生;蔡雪原;郑江云;章礼华;冯学军;余储贤;胡心怡 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2022-04-21 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01R31/3181 文献下载
摘要：本发明提供一种有效关键面积参数向量集重排序方法及系统包括：获取被测集成电路的电路描述语言，据以利用测试向量生成工具ATPG生成针对该所述被测集成电路的测试向量集；对所述被测集成电路的模拟电路进行故障注入，获取并根据当前所述模拟电路中的测试响应值判断该所述被测集成电路是否存在故障；参照所述被测集成电路的结构图，处理不同单元电路中所含晶体管的总关键面积相对于该单元电路的面积覆盖，统计所述测试向量集中的每条测试向量命中故障的次数，据以处理得到测试特征值，按照所述测试特征值排序处理所述测试向量，以重排序测试向量集，用以测试所述被测集成电路。本发明解决了集成电路测试成本高、测试效率低及测试准确率低的技术问题。
一种有效关键面积参数向量排序方法系统

[发明专利]基于FDR的最大相容块的向量压缩方法、装置及系统-CN201811306318.7有效
发明人： 詹文法;陶鹏程;邵志伟;江健生;程一飞;冯学军;吴海峰;张振林 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2018-11-05 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： H03M7/46 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于FDR的最大相容块的向量压缩方法，方法包括：1)、获取待压缩测试向量序列；2)、将待压缩测试向量均按照预设长度切分为若干个数据块；3)、将待压缩测试向量序列中的第一个待压缩测试向量的下一个向量作为当前测试向量，获取当前测试向量与当前测试向量的前一个测试向量中不相容的数据块的游程编码，并将游程编码与不相容的数据块的组合作为当前测试向量的编码结果；将当前测试向量的下一个向量作为当前测试向量，并返回执行步骤3)，直至待压缩测试向量序列中的各个待压缩测试向量被遍历。本发明公开了一种基于FDR的最大相容块的向量压缩装置。应用本发明实施例，提高了压缩率。
基于 fdr 最大相容向量压缩方法装置系统

[发明专利]基于可测试面积估算测试性能的测试集重排序方法及装置-CN201911206856.3有效
发明人： 詹文法;陶鹏程;蔡雪原;邵志伟;彭勇;张振林;丁文祥;彭登辉;华铭;都奕 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2019-11-29 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于估算测试性能的测试集重排序方法，包括以下步骤：S1、生成测试集并仿真测试；S2、估算测试集中测试向量的故障测试性能；S3、对估算后的测试集进行重新排序，得到新的测试集。本发明还公开了一种基于估算测试性能的测试集重排序装置，本发明依据测试性能的高低对测试向量进行重新排序，使用重新排序后的测试向量进行测试，可以有效减少故障电路的测试时间，提高测试效率。
基于测试面积估算性能排序方法装置

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