[发明专利]基于ARM的三轴高G值传感器测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种基于ARM的三轴高G值传感器测试装置，其特征在于：它包括三轴信号调理模块、ARM单片机控制模块、加速度数据存储模块，三轴信号调理模块用于将三轴高G值传感器感知到X、Y、Z三方向加速度信号调理放大；ARM单片机控制模块用于将调理放大后的X、Y、Z三方向加速度信号进行模数转换后传递到加速度数据存储模块进行存储；加速度数据存储模块用于存储经ARM单片机控制模块处理后的三方向加速度信号；

所述ARM单片机控制模块的工作流程为：ARM单片机D1上电后，ARM单片机D1进入低功耗模式，低功耗结束后，等待机械惯性开关GB闭合，机械惯性开关GB闭合后，ARM单片机D1产生中断响应，ARM单片机D1开始接收三轴信号调理模块传递过来的三路调理放大后的电压信号，并将接收到的三路电压信号进行模数转换，然后通过SPI通信功能将按顺序排好的经模数转换的三路电压信号存储到加速度数据存储模块中，此外，上位机通过串口向ARM单片机发送Flash擦除指令、复位指令、低功耗指令，上位机通过串口接收从加速度数据存储模块传递到ARM单片机D1中的存储数据，其中Flash擦除指令作用是擦除ARM单片机D1中Flash数据存储区域内存储的低功耗数据；复位指令作用是擦除加速度数据存储模块中的数据；低功耗指令作用是节省电能源消耗，低功耗时间根据侵彻环境实时装订，低功耗指令存储在Flash数据存储区域内。

2.根据权利要求1所述的基于ARM的三轴高G值传感器测试装置，其特征在于：所述三轴信号调理模块包括三轴高G值传感器S1、仪表放大器N1、仪表放大器N2和仪表放大器N3，所述三轴高G值传感器为电桥式传感器，其含有X、Y、Z三路输出，三轴高G值传感器S1的X路的正负2个输出端分别连接仪表放大器N1的同相输入端IN+和反相输入端IN-，仪表放大器N1的增益控制端的正负接口之间连接增益电阻R1，仪表放大器N1的参考电压端REF连接第一组分压电阻R2和R3的公共端，电阻R2的另一端接地，电阻R3的另一端接入电源，电阻R4连接在仪表放大器N1的输出端OUT与ARM单片机D1的模拟信号输入端PC0之间；

三轴高G值传感器S1的Y路的正负2个输出端分别连接仪表放大器N2的同相输入端IN+和反相输入端IN-，仪表放大器N2的增益控制端的正负接口之间连接增益电阻R5，仪表放大器N2的参考电压端REF连接第二组分压电阻R6和R7的公共端，电阻R6的另一端接地，电阻R7的另一端接入电源，电阻R8连接在仪表放大器N2的输出端OUT和ARM单片机D1的模拟信号输入端PC1之间；

三轴高G值传感器S1的Z路的正负2个输出端分别连接仪表放大器N3的同相输入端IN+和反相输入端IN-，仪表放大器N3的增益控制端的正负接口之间连接增益电阻R9，仪表放大器N3的参考电压端REF连接第三组分压电阻R10和R11的公共端，电阻R10的另一端接地，电阻R11的另一端连接电源，电阻R12连接在仪表放大器N3的输出端OUT和ARM单片机D1的模拟信号输入端PC2之间。