[发明专利]异方性导电胶膜导电粒子检测装置

说明书

异方性导电胶膜导电粒子检测装置，包括机架，机架上方的左侧设有上料输送装置，机架上方的右侧设有次品下料输送装置，次品下料输送装置的次品下料输送带可在次品下料驱动装置的驱动下作环形运动；机架上位于上料输送带和次品下料输送带之间设有左检测平台和右检测平台，左检测平台安装在左电动旋转平台上，左检测平台可在左电动旋转平台的驱动下做旋转运动，右检测平台安装在右电动旋转平台上，右检测平台可在右电动旋转平台的驱动下做旋转运动，左检测平台和右检测平台的下方设有对位相机。其目的在于提供一种可显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测装置的工作效率，让图像采集处理的质量大为提高的异方性导电胶膜导电粒子检测装置。

技术领域

本发明涉及一种异方性导电胶膜导电粒子检测装置。

背景技术

异方性导电胶膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)是一种可以在短时间内达到导电性连接的材料。异方性导电胶膜也即ACF所起到的主要作用：导电，绝缘，粘接，其主要包括树脂黏着剂、导电粒子两大部分；树脂黏着剂功能除了防湿气，接着，耐热及绝缘功能外主要为固定IC芯片与基板间电极相对位置，并提供一压迫力量已维持电极与导电粒子间的接触面积。

在导电粒子方面，异方导电特性主要取决于导电粒子的充填率。虽然异方性导电胶其导电率会随着导电粒子充填率的增加而提高，但同时也会提升导电粒子互相接触造成短路的机率。

另外，导电粒子的粒径分布和分布均匀性亦会对异方导电特性有所影响。通常，导电粒子必须具有良好的粒径均一性和真圆度，以确保电极与导电粒子间的接触面积一致，维持相同的导通电阻，并同时避免部分电极未接触到导电粒子，导致开路的情形发生。常见的粒径范围在3—5μm之间，太大的导电粒子会降低每个电极接触的粒子数，同时也容易造成相邻电极导电粒子接触而短路的情形；太小的导电粒子容易行成粒子聚集的问题，造成粒子分布密度不平均。在导电粒子的种类方面目前已金属粉末和高分子塑料球表面涂布金属为主。常见使用的金属粉镍(Ni)、金(Au)、镍上镀金、银及锡合金等。

平时导电粒子在黏合剂中均匀分布,互不接触,加之有一层绝缘膜,ACF膜是不导电的,当对ACF膜加压、加热后(一般加压、加热分两次,第一次为临时贴在产品上60℃～100℃,(3～10)×104Pa,2s～10s出货，第二次为部品搭载时约150℃～200℃,(20～40)×104Pa,10s～20s)导电粒子绝缘膜破裂,并互相在有线路的部分(因为较无线路部分突起)挤压在一起,形成导通,被挤压后的导电粒子体积是原来的3～4倍(导电粒子体积不变，差别在於原本是球体状，经过热压後变成类似圆饼状，让上下电极有更多的面积接触到导电粒子),加热使黏合剂固化,保持导通状态。一般导通部分电阻在10Ω以下,未导通部分相邻端子间在100MΩ以上。

异方性导电胶膜导电粒子检测装置是一种用于检测异方性导电胶膜上的导电粒子的分布状态的设备，现有的异方性导电胶膜导电粒子检测装置通常都是利用一组对位相机和检测平台进行工作，但由于对异方性导电胶膜进行调整、对位的时间较长，会让图像采集相机等待较长的时间，由此造成现有的异方性导电胶膜导电粒子检测装置的工作效率较低，由于在对异方性导电胶膜进行调整、对位的工序上使用了较长的时间，还造成图像采集相机的处理时间非常紧张，让图像采集处理的质量降低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可显著地提高了异方性导电胶膜导电粒子检测装置的工作效率，让图像采集处理的质量大为提高的异方性导电胶膜导电粒子检测装置。

本发明的异方性导电胶膜导电粒子检测装置，包括机架，机架上方的左侧设有上料输送装置，上料输送装置的上料输送带可在上料驱动装置的驱动下作环形运动，机架上方的右侧设有次品下料输送装置，次品下料输送装置的次品下料输送带可在次品下料驱动装置的驱动下作环形运动；