[发明专利]基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法

说明书

本发明涉及一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法，属于光电探测技术领域，通过建立角位置速度双环伺服闭环控制系统，设置指令输入为正弦信号，统计伺服控制系统角位置跟随误差，快速测试伺服控制性能，此方法不用专用测试设备。本发明主要解决了如何用一种快速有效的测试方法来完成光电探测设备伺服控制系统性能测试问题。

技术领域

本发明涉及一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法，属于光电探测技术领域。

背景技术

光电探测设备通过两轴内外框构型伺服控制系统完成视轴的指向控制，伺服控制系统由轴系、电机、测角元件、陀螺等组成，驱动电机带动内外框架运动，实现对视轴控制，指向精度是衡量伺服控制系统性能的主要指标。影响指向精度主要因素有轴系摩擦力矩、测角元件摩擦力矩、电机性能、陀螺性能，任何一个方面出现异常都能导致指向精度异常。传统测试方法通过建立光电闭环跟踪系统进行测试，光电探测设备安装在特定位置，用转台控制模拟目标源运动，进入跟踪模式，测量目标源偏离视场中心的图像偏差，这种测试方法占用大量的人力、物力及时间，效率较低。如果此时发现指向精度不达标，就会重新检测伺服控制系统各个部件是否满足要求，伺服控制系统比较复杂，关联因素较多，很难一次定位问题，需要多次测试，传统测试方法效率较低。

发明内容

要解决的技术问题

为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法，解决了如何用一种快速有效的测试方法来完成光电探测设备伺服控制系统性能测试问题。

技术方案

一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：将角位置输入指令置成正弦信号；

步骤2：实时采集当前角位置、角速度，运行控制算法PID计算电机驱动量，驱动伺服机构正弦运动，开始跟随指令信号；

步骤3：实时计算当前角位置与输入指令的跟随误差，并进行存储；

步骤4：运动三个周期后，对跟随误差进行标准差处理，得到测试结果；

步骤5：将测试结果反馈给检测设备。

有益效果

本发明提出的一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法，设置伺服闭环控制系统输入指令为正弦信号，并统计出角位置跟随误差的标准差作为伺服控制系统性能测试指标，不再需要专用测试设备。通过本测试方法可以快速、有效地测试伺服控制系统指向精度，节省人力、物力及时间。

附图说明

图1测试方法的流程图；

图2测试方法的控制框图。

具体实施方式

现结合实施例、附图对本发明作进一步描述：

一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法，构建角位置速度环双回路伺服控制系统，包含轴系、测角元件、电机性能、陀螺等各个环节，各个环节的性能决定了伺服控制系统性能。伺服控制系统角位置输入指令给以一个正弦信号，正弦信号幅值与频率设置为光电闭环测试时目标源运动曲线，伺服控制系统能够跟随角位置信号，伺服控制系统输出角位置信号与角位置输入指令有跟随误差，对角位置跟随误差进行统计，计算标准差作为测试结果，即指向精度。此方法嵌入到伺服控制软件，收到测试指令后开始执性，将测试结果反馈到检测设备。

如附图1所示，具体实施步骤如下：

第一步，收到测试指令后开始执行；

第二步，将输入指令置成正弦信号；