[发明专利]一种四针四线电阻测量治具及其测量方法在审
申请号: | 201911159323.4 | 申请日: | 2019-11-22 |
公开(公告)号: | CN110763917A | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 杨漫雪;林豪;丁灵俊 | 申请(专利权)人: | 南京隆特电子有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R1/04;G01R1/073 |
代理公司: | 32286 南京常青藤知识产权代理有限公司 | 代理人: | 毛洪梅 |
地址: | 210000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探针 探针固定块 测量活动 下固定架 测量机构 定位型腔 活动基座 上固定架 分离座 机台 电气控制柜 电阻测量 固定基座 重复测量 便捷性 偏差性 四线 治具 测量 | ||
本发明提供一种四针四线电阻测量治具,包括机台以及分别设在所述机台上的电气控制柜和测量机构,所述测量机构包括下测量活动机构和上测量活动机构;所述下测量活动机构包括设在所述机台上的下固定架,下固定架分别设有相互对应的下探针固定块和下探针分离座,下探针固定块和所述下探针分离座上设有下探针;所述上测量活动机构包括与所述下固定架对接的上固定架,上固定架上设有上活动基座,所述上活动基座上设有上探针固定块,所述上探针固定块上设有上探针;型腔固定基座上设有定位型腔,所述上探针和所述下探针分别对应所述定位型腔。本发明提升测量的便捷性、准确性及降低或避免重复测量偏差性。
技术领域
本发明属于电阻测量技术领域,具体涉及一种四针四线电阻测量治具及其测量方法。
背景技术
目前对合金电阻元器件的阻值测量都保留在手动把柄式测量治具、手动下压式测量治具以及探卡式下压测量治具,以上测量治具均存在测量位置不一,测量时受力不均以及测量时探针滑动导致实际测量的阻值偏差大。
发明内容
本发明的目的是提供一种四针四线电阻测量治具及其测量方法,提升测量的便捷性、准确性及降低或避免重复测量偏差性。
本发明提供了如下的技术方案:
一种四针四线电阻测量治具,包括机台以及分别设在所述机台上的电气控制柜和测量机构,所述测量机构包括下测量活动机构和上测量活动机构;所述下测量活动机构包括设在所述机台上的下固定架,所述下固定架内设有下活动滑块,所述下活动滑块上设有下活动基座,所述下固定架底端上设有下活动气缸,所述下活动基座连接所述下活动气缸,所述下活动基座上分别设有相互对应的下探针固定块和下探针分离座,所述下探针固定块和所述下探针分离座上设有下探针,所述下固定架顶端设有固定支架;所述上测量活动机构包括与所述下固定架对接的上固定架,所述上固定架顶端设有上活动气缸,所述上固定架内设有上活动滑块,所述上活动滑块上设有上活动基座,所述上活动基座连接所述上活动气缸,所述上活动基座上设有上探针固定块,所述上探针固定块上设有上探针;所述上固定架与所述下固定架之间设有型腔固定基座,所述型腔固定基座设在所述固定支架上,所述型腔固定基座上设有定位型腔,所述上探针和所述下探针分别对应所述定位型腔,所述电气控制柜分别连接所述下活动气缸和所述上活动气缸。
优选的,所述下活动基座上设有下探针固定基座,所述下探针固定块和所述下探针分离座分别设在所述下探针固定基座上,所述下探针分离座上的所述下探针对应所述定位型腔。
优选的,所述上活动基座上设有上探针固定基座,所述上探针固定块设在所述上探针固定基座上。
优选的,所述下固定架上设有下气缸固定座,所述下活动气缸设在所述下气缸固定座上并连接所述下活动基座。
优选的,所述上固定架上设有上气缸固定座,所述上活动气缸设在所述上气缸固定座上并连接所述上活动基座。
优选的,所述电气控制柜内设有相互连接的电源和电磁阀,所述电磁阀分别连接所述上活动气缸和所述下活动气缸。
优选的,所述电气控制柜上设有测量按钮和总电源按钮,所述总电源按钮连接所述电源,所述测量按钮连接所述电磁阀。
一种四针四线电阻测量治具的测量方法,包括以下步骤:
S1:将待测电阻产品放入定位型腔内进行固定定位;
S2:开启电气控制柜控制上测量活动机构和下测量活动机构进行动作;
S3:由上活动气缸带动上测量机构进行下压,使上探针将定位型腔内的待测产品上表面电极进行压紧;
S4:由下活动气缸带动下测量活动机构进行上升,使下探针接触到定位型腔内的待测产品下表面电极;
S5:完成以上动作进行电阻测量,测量完成后电气控制柜控制停止测量即测量完成。
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