[发明专利]电子部件测试用分选机

说明书

本发明涉及电子部件测试用分选机。根据本发明的电子部件测试用分选机配备有测试腔，该测试腔具有向一侧开口的出入孔，通过出入装置从同一出入孔将电子部件带入测试腔或则带出测试腔，在进行针对电子部件的测试时用开闭装置封闭出入孔。根据本发明，可以在将测试腔的内部孤立于外部的温度环境或者光的同时还能够实现电子部件的自动化处理。

技术领域

本发明涉及电子部件测试用分选机。

背景技术

生产出的电子部件由测试仪测试后将被分为良品和不良品，并且仅有良品可以被出库。

通过称作电子部件测试用分选机(以下简称“分选机”)的自动化设备进行测试仪和电子部件之间的电连接。

由于分选机需要能够精确地连接电子部件和测试仪，因此可以根据电子部件的种类而制造成多种形态。

当然，分选机基本需要的重要技术是电连接电子部件和测试仪的技术，但此外还有根据测试条件和要测试的电子部件的种类而选择性地需要的技术。

通常，通过将电子部件向测试仪侧加压而实现电子部件和测试仪的连接。此时，为了准确加压电子部件，需要使加压部件(推动器(pusher))和电子部件或者电子部件和测试仪的测试插槽之间形成精确的位置设定。尤其是诸如半导体元件等电子部件，因其集成率越来越高，因而具有端子的尺寸和端子之间的间距越来越细微化的趋势，因此电子部件和测试仪之间的精确电连接变得更加重要。为此，需要考虑相关构成要素的结构偏差、操作误差或者由于设备的运行引起的振动等多种变数。

此外，选择性地需要的多种技术中的一个可以是设定苛刻的温度条件的技术。由于电子部件可能在多种温度环境下被使用，因而有必要在有意创造的苛刻温度环境下测试电子部件。因此在有必要创造苛刻的温度环境的分选机中配备有可以在测试状态下尽量密闭的测试腔，构成为使电子部件在营造有苛刻的温度环境的测试腔内被测试。

并且，选择性地需要的多种技术中的又一个可以是能够使用于数码相机等的光学用电子部件所需的。由于光学用电子部件有必要在通过透镜可以感测到来自拍摄目标物的光的状态下被测试，因此在测试光学用电子部件时应当使用向拍摄目标物照射光的照明。并且，为了获得令人满意的测试结果，有必要在阻断可能产生干扰的杂光的状态下使用照明，因此光学用电子部件的测试需要在最大限度抑制杂光入射到透镜的情形的状态下进行。

本发明尤其涉及能够适当地应用于光学用电子部件的测试的分选机的技术，因此深入地研究了与光学用电子部件的测试相关的技术。

目前，难以自动化将感光透镜一体化的光学用电子部件和测试仪之间的电连接。这是由于为了阻断杂光通过透镜入射而要以死虫(dead bug)状态(电子部件的端子如昆虫翻过来死亡一样以朝向上方的方式翻转的状态)进行针对于光学用电子部件的测试。

图1概略地示出了在死虫状态下进行测试的概念性结构。

参照图1，可知光学用电子部件D以死虫状态与下方的测试仪TESTER接触。并且，由于在测试仪TESTER形成有为了借助位于下方的照明元件LE向感光透镜SL照射光的照明孔LH，因此构成为照明元件LE可以通过照明孔LH向感光透镜SL照射光。此时，测试仪TESTER和光学用电子部件D之间的电连接通过配备在位于光学用电子部件D的上方的测试仪的接口板SB(也可以称为插座板)的测试插槽TS的端子T₁与光学用电子部件D的端子T₂接触而实现。

像这样，由于光学用电子部件D以死虫状态放置在测试仪，因此因光学用电子部件D的端子T₂而实质上难以用自动化的机器人以真空吸附方式拾取电子部件并使其就位。因此，通过手工作业使光学用电子部件D就位，但这种通过工作人员的手工作业将光学用电子部件D就位的方式在处理时间和费用方面绝对无法令人满意，并且在电子部件D的表面留下手工作业导致的痕迹，因此有必要提出通过分选机自动供应光学用电子部件D的技术。