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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]电子部件测试用分选机-CN202111390957.8在审
发明人：金善真;金峻秀 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及电子部件测试用分选机，包括：测试腔，具有向前方开口的出入孔；开闭装置，在电子部件通过出入孔而被带入或带出测试腔时打开出入孔，在进行针对电子部件的测试时封闭出入孔；出入装置，在拾取要被测试的电子部件之后通过出入孔将拾取的电子部件带入测试腔，并在拾取完成测试的电子部件之后通过出入孔将拾取的电子部件带出测试腔；加压装置，对在测试位置的待测试的电子部件加压而将电子部件电连接到测试仪，电子部件在借由出入装置被带入测试腔之后被带出测试腔，在带入和带出时通过出入孔，出入装置固定于测试腔的外侧，包括配备有能够拾取或解除拾取的拾取器的拾取杆，拾取器配置为能够通过出入孔进入测试腔的内部或脱离测试腔。
电子部件测试分选

[发明专利]电子部件测试用分选机-CN201911146750.9有效
发明人：金善真;金峻秀 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及电子部件测试用分选机。根据本发明的电子部件测试用分选机配备有测试腔，该测试腔具有向一侧开口的出入孔，通过出入装置从同一出入孔将电子部件带入测试腔或则带出测试腔，在进行针对电子部件的测试时用开闭装置封闭出入孔。根据本发明，可以在将测试腔的内部孤立于外部的温度环境或者光的同时还能够实现电子部件的自动化处理。
电子部件测试分选

[发明专利]电子部件测试用分选机及其移动装置-CN202111091283.1在审
发明人：金善真;金峻秀 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明涉及电子部件测试用分选机及其移动装置。电子部件测试用分选机的移动装置包括：拾取器，能够通过真空压吸附而拾取电子部件或者解除电子部件的拾取；升降器，通过升降所述拾取器而使所述拾取器能够下降到能够拾取电子部件或者解除拾取的位置，或者能够上升到能够移动电子部件的位置；以及移动器，通过移动所述拾取器，从而使所述拾取器能够移动到能够拾取电子部件或者解除拾取的位置，其中，所述拾取器拾取的电子部件在所述拾取器通过真空压吸附而拾取的表面具有四边形的感光区域，所述拾取器具有作为接触到电子部件的表面的拾取部位的吸附垫，所述吸附垫具有四边形的形态。
电子部件测试分选及其移动装置

[发明专利]电子部件测试用分选机及其加压装置-CN202111092534.8在审
发明人：金善真;金峻秀 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明涉及电子部件测试用分选机及其加压装置。电子部件测试用分选机的加压装置包括：加压盘，配备为可升降移动；推动器，设置在所述加压盘的下表面，并在所述加压盘下降移动时，其向下方突出的加压部分在接触到电子部件的同时将电子部件向下方加压而使电子部件电连接到测试插槽，在所述加压盘上升移动时，解除针对电子部件的加压；以及加压驱动源，通过升降所述加压盘使电子部件通过所述推动器而被向下方加压或者被解除加压，其中，在所述加压盘形成有能够使来自照明装置的光通过的第一通过孔，在所述推动器形成有能够使通过所述第一通过孔的光通过而照射到电子部件的第二通过孔。
电子部件测试分选及其加压装置

[发明专利]测试分选机-CN201810081872.3有效
发明人：金斗佑;金峻秀;金成元 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2015-06-23 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：根据本发明的实施方式，提供了一种测试分选机，其包括：装载单元，用于装载电子部件；浸泡室，用于预冷却或预加热完成装载的电子部件，以便使电子部件具有用于测试的设定温度；测试室，用于测试完成预冷却或预加热的电子部件；去浸泡室，用于将完成测试的电子部件的温度恢复至预先设定的水平，去浸泡室包括流动路径，流动路径具有第一入口、出口以及邻近出口的第二入口，流动路径形成在去浸泡室的一个侧壁内部；循环单元，用于沿流动路径循环去浸泡室中的空气；以及卸载单元，用于卸载具有恢复至预先设定的水平的温度的电子部件。
测试分选

[发明专利]测试分选机-CN201510349439.X有效
发明人：金斗佑;金峻秀;金成元 -专利权人：泰克元有限公司
申请日： 2015-06-23 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：根据本发明的实施方式，提供了一种测试分选机，其包括：装载单元，用于装载电子部件；浸泡室，用于预冷却或预加热完成装载的电子部件，以便使电子部件具有用于测试的设定温度；测试室，用于测试完成预冷却或预加热的电子部件；去浸泡室，用于将完成测试的电子部件的温度恢复至预先设定的水平，去浸泡室包括流动路径，流动路径具有第一入口、出口以及邻近出口的第二入口，流动路径形成在去浸泡室的一个侧壁内部；循环单元，用于沿流动路径循环去浸泡室中的空气；以及卸载单元，用于卸载具有恢复至预先设定的水平的温度的电子部件。 1
电子部件浸泡室流动路径测试分选机预加热预冷却测试装载温度恢复卸载单元循环单元装载单元测试室侧壁卸载出口邻近恢复

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共 6 条

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