[发明专利]一种高荧光量子产率CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱的量子点制备方法有效

专利信息
申请号: 201911135812.6 申请日: 2019-11-19
公开(公告)号: CN110746975B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 段军红;邹时兵;倪武;刘亮;冯璐欣 申请(专利权)人: 南昌航空大学
主分类号: C09K11/88 分类号: C09K11/88;C09K11/02;B82Y30/00
代理公司: 南昌洪达专利事务所 36111 代理人: 黄文亮
地址: 330000 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 荧光 量子 cdznse cdse 制备 方法
【说明书】:

发明公开了一种高荧光量子产率CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱的量子点制备方法,包括以下步骤,(1)、通过高温热注入法制备粒径在3.5nm左右的CdZnSe核量子点;(2)、步骤(1)得到的CdZnSe量子点纯化溶解于甲苯中与相应配位溶剂混合,通过连续离子层吸附的方法,即按照一定的速率滴加一定量的阳离子与阴离子的混合前驱体,制备得到包覆有CdSe壳层为0.5nm的CdZnSe/CdSe量子点;(3)、在步骤(2)的基础上,按照一定的滴加速率继续滴加混合的阴阳离子前驱体,继续反应合成CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱量子点。本发明所制备的CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱的量子点荧光量子产率可以达到100%,成膜后的量子产率也大大提高,很好的保持了大尺寸(厚壳层)以及高发光效率的量子点发光材料,为QLED的制备提供了一种优良的备选材料。

技术领域

本发明涉及纳米晶材料技术领域,具体涉及一种高荧光量子产率CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱的量子点制备方法。

背景技术

量子点(Quantum dots,QDs)又称为半导体纳米晶,由于空间三维都受到量子限域效应,使得其三维尺寸都在1-100nm之间,属于准零维的范畴。因为具有窄的发光光谱和高的光致发光量子产率,引起了人们在显示器,激光器以及太阳能电池的应用方面的广泛注意。目前,量子点的荧光量子产率在溶液中已经接近100%,但是成膜后的量子产率急剧下降,这严重影响了器件的性能,这是由于量子点成膜后处于密集状态,点间距离极大地缩小,量子点间的相互作用增强;电子和空穴可转移至有缺陷态的量子点,能量以非辐射复合的形式释放。虽然量子点间的能量转移机制目前仍在研究,但是可以确定点间距离减小会增强量子点间耦合,进而放大了少数量子点缺陷态的作用,最终导致荧光淬灭。目前普遍的高质量的量子点都是普通的核/壳结构,壳层的厚度几乎刚好达到发光核的晶格挤压极限,然后这样厚度的壳层完全不能抑制成膜后量子点间的相互作用。以CdZnSe作为内核,但是不起发光的作用,紧接着在表面包覆薄层的CdSe作为发光层,这样内核CdZnSe起到提供支撑的作用,创建内层高势垒,随后在最外层连续包覆CdZnSe,作用是创建外层高势垒,将电子和空穴局限在CdSe发光层,进而提高其辐射复合效率。本发明所制备的CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱的量子点荧光量子产率可以达到100%,由于超过5nm的壳层厚度,增大了量子点成膜后的点间距离,抑制了量子点间耦合,因此成膜后的量子产率也大大提高。

发明内容

本发明所要解决的问题是:提供一种高荧光量子产率CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱的量子点制备方法,增大了量子点成膜后的点间距离,抑制了量子点间耦合,因此成膜后的量子产率也大大提高,很好的保持了大尺寸(厚壳层)以及高发光效率的量子点发光材料,为QLED的制备提供了一种优良的备选材料。

本发明为解决上述问题所提供的技术方案为:一种高荧光量子产率CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱的量子点制备方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤,

(1)、通过高温热注入法制备粒径在3.5nm左右的CdZnSe核量子点;

(2)、步骤(1)得到的CdZnSe量子点纯化溶解于甲苯中与相应配位溶剂混合,通过连续离子层吸附的方法,即按照一定的速率滴加一定量的阳离子与阴离子的混合前驱体,制备得到包覆有CdSe壳层为0.5nm的CdZnSe/CdSe量子点;

(3)、在步骤(2)的基础上,按照一定的滴加速率继续滴加混合的阴阳离子前驱体,继续反应合成CdZnSe/CdSe/CdZnSe量子阱量子点。

优选的,所述步骤(1)中需要多次改变Se前驱体的量和成核的保温时间来获得荧光发射位置在525nm的CdZnSe核量子点。

优选的,所述步骤(2)中阳离子前驱体为浓度0.1mmol/ml的油酸镉,阴离子前驱体为浓度为1mmol/ml的硒粉溶于三丁基磷TBP。

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