[发明专利]应用于离子束精准镀膜的工件图像去雾化方法及装置有效

专利信息
申请号: 201911126984.7 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN110874826B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 景晓军;黄海;杨威;刁克明;张芳沛;王雪姝 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 马敬;赵元
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 应用于 离子束 精准 镀膜 工件 图像 雾化 方法 装置
【说明书】:

发明实施例提供了一种图像去雾化方法、装置及电子设备,其中,方法包括:获取待去雾化图像以及盲去雾化模型;将所述待去雾化图像输入神经网络中,得到所述待去雾化图像的模糊核,其中,所述神经网络的损失函数是根据所述盲去雾化模型得到的,所述盲去雾化模型包括:暗通道先验;将所述模糊核代入盲去雾化模型中,得到非盲去雾化模型;根据所述非盲去雾化模型,对所述待去雾化图像进行去雾化,得到清晰图像。采用本发明实施例提供的技术方案在对图像进行去雾化时,可以提高盲去雾化模型的泛用性,从而提高对图像去雾化的准确性。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域,特别是涉及一种图像去雾化方法、装置及电子设备。

背景技术

在图像拍摄过程中,由于拍摄环境的光线问题或待拍摄物体的问题,很容易使得拍摄出的图像模糊不清。很多情况下,当拍摄出的图像模糊不清时,需要对拍摄出的图像进行去雾化处理,以得到清晰的图像。例如,在离子束溅射镀膜过程中,需要拍摄待加工工件的图像,根据拍摄的图像来对待加工工件进行定位,以便于调整离子源、待加工工件和靶台之间的位置,使溅射离子可以对准待加工工件,但由于离子束溅射镀膜的操作室光线通常较暗,拍摄的待加工工件的图像通常对比度较低且成像较模糊,这种情况下,就需要对拍摄的待加工工件的图像去雾化。对图像去雾化,多数为对图像盲去雾化,即在图像去雾化过程中,图像的模糊核未知。

现有技术在对图像去雾化时,采用的方法通常是:利用模糊核的先验将盲去雾化模型转换为非盲去雾化模型,再用非盲去雾化模型对图像去雾化。

但是,利用现有技术在对图像去雾化时,由于大部分模糊核的先验都是统计得到,这样,就会导致盲去雾化模型的泛用性较差,使得对图像去雾化的准确性也较差。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种图像去雾化方法、装置及电子设备,以提高盲去雾化模型的泛用性,从而提高对图像去雾化的准确性。具体技术方案如下:

第一方面,本发明实施例提供了一种图像去雾化方法,所述方法包括:

获取待去雾化图像以及盲去雾化模型;

将所述待去雾化图像输入神经网络中,得到所述待去雾化图像的模糊核,其中,所述神经网络的损失函数是根据所述盲去雾化模型得到的,所述盲去雾化模型包括:暗通道先验;

将所述模糊核代入盲去雾化模型中,得到非盲去雾化模型;

根据所述非盲去雾化模型,对所述待去雾化图像进行去雾化,得到清晰图像。

可选的,所述将所述待去雾化图像输入神经网络中,得到所述待去雾化图像的模糊核,包括:

S1:对所述待去雾化图像进行n次下采样,得到n张下采样图片yn-1~y0,其中,yn-1为对所述待去雾化图像进行第1次下采样后得到的图像,yn-2为对所述待去雾化图像进行第2次下采样后得到的图像,……,y0为对所述待去雾化图像进行第n次下采样后得到的图像,n为大于0的整数;

S2:将预设的模糊核确定为y0对应的初始模糊核k0,将预设的图像确定为y0去雾化后得到的初始潜像x0

S3:将i的值设置为1;

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