[发明专利]一种样品臂光路结构以及OCT成像系统在审
申请号: | 201911113443.0 | 申请日: | 2019-11-14 |
公开(公告)号: | CN110687056A | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 苏胜飞 | 申请(专利权)人: | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;华讯方舟科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G02B26/10;G02B26/08 |
代理公司: | 44414 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭雨桐 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制状态 待测样品 反射 光束控制 扫描振镜 样品扫描 探头 样品臂光路 扫描探头 光学相干层析技术 光谱分析仪 光束入射 宽带光源 时分复用 时限制 传播 | ||
1.一种样品臂光路结构,用于与宽带光源、耦合器和参考臂光路结构配合,以对待测样品进行扫描,所述宽带光源发出源光束,所述耦合器用于将所述源光束分成入射所述样品臂光路结构的第一光束和入射所述参考臂光路结构的第二光束,其特征在于,所述样品臂光路结构包括:样品扫描探头,所述样品扫描探头包括:
扫描振镜,供所述第一光束入射并向待测样品反射所述第一光束,并接收从所述待测样品反射回的所述第一光束;以及
光束控制机构,设置于所述第一光束的传播光路上并具有第一控制状态以及第二控制状态,所述光束控制机构在所述第一控制状态时使所述第一光束经所述扫描振镜反射至所述待测样品,而在所述第二控制状态时限制所述第一光束经所述扫描振镜反射至所述待测样品;
其中,所述样品扫描探头设置有多个,且至多有一个所述光束控制机构处于所述第一控制状态。
2.如权利要求1所述的样品臂光路结构,其特征在于:所述光束控制机构包括光束控制板,所述光束控制板由不透光材料制成且开设有透光孔;所述光束控制机构处于所述第一控制状态时,所述第一光束经所述透光孔入射所述待测样品;所述光束控制机构处于所述第二控制状态时,所述第一光束入射所述光束控制板,且所述光束控制板阻断所述第一光束扫描所述待测样品。
3.如权利要求1所述的样品臂光路结构,其特征在于:所述样品扫描探头还包括设置于所述光束控制机构与所述扫描振镜之间的聚焦透镜。
4.如权利要求1-3任意一项所述的样品臂光路结构,其特征在于:所述样品扫描探头还包括第一准直透镜,所述第一准直透镜用于对入射对应的所述扫描振镜的所述第一光束进行准直。
5.如权利要求4所述的样品臂光路结构,其特征在于:所述样品扫描探头还包括连接所述耦合器的光纤连接头,所述光纤连接头用于向所述第一准直透镜投射所述第一光束。
6.如权利要求1-3任意一项所述的样品臂光路结构,其特征在于:所述样品臂光路结构还包括振镜驱动器,所述振镜驱动器用于驱动所述扫描振镜转动,以使所述第一光束扫描所述待测样品。
7.一种OCT成像系统,用于对待测样品进行扫描成像,其特征在于,所述OCT成像系统包括:如权利要求1-6任意一项所述的样品臂光路结构、参考臂光路结构、宽带光源、耦合器以及光谱分析仪,所述宽带光源用于发出源光束,且所述源光束被所述耦合器分成第一光束和第二光束,所述第一光束入射所述样品臂光路结构,所述第二光束入射所述参考臂光路结构,所述光谱分析仪用于接收并分析从所述样品臂光路结构反射回的所述第一光束以及从所述样品臂光路结构反射回的所述第二光束。
8.如权利要求7所述的OCT成像系统,其特征在于:所述参考臂光路结构包括反射镜,所述反射镜供所述第二光束入射并将所述第二光束反射回所述光谱分析仪。
9.如权利要求8所述的OCT成像系统,其特征在于:所述参考臂光路结构还包括第二准直透镜,所述第二准直透镜用于对入射所述反射镜的所述第二光束进行准直。
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