[发明专利]不同深度地质各向异性的环形探测方法

说明书

本发明公开了一种不同深度地质各向异性的环形探测方法，该方法具体包括：观测点的设计：在一个环形圆周上设置多个电极或电极对；在同一时刻对各点电位进行测试，通过探测不同深度地电的各向异性来快速判断不同深度地质的各向异性，该方法可用于探测同一测点上不同深度的地质构造、岩（矿）石电性的各向异性的特征进而获得地质结构的各向异性特征；探测深度可从几米到数千米；同时克服了探测时天然电场随时间变化的影响，实现了探测结果之间的精细对比，提高了探测质量和精度。

技术领域

本发明属于地质勘探技术领域，具体涉及一种不同深度地质各向异性的环形探测方法。

背景技术

随着经济发展，地质工作上对勘探深度要求越来越大、对勘探精度要求越来越高，尤其是最近几年蓬勃兴起的干热岩技术向物探工作者提出了更高的要求；有效研究不同深度岩石结构的各向异性，将对深部地下地质构造研究具有极其重要的意义。

目前，针对不同深度地质结构的各向异性的研究是通过在线或面上探测然后再推测到各点的不同深度的地下地质情况；同一点上，往往由于受多期构造的影响，地下不同深度的地质情况会发生很大变化；不同深度、不同方向岩石的破碎程度不同，因此，亟需准确快速研究地质结构各向异性的方法。

目前针对某一点的不同深度岩石的各向异性的研究方法较复杂，是通过线和面的测量来推测具体点的地下地质情况，通过少数几个点很难判断某一点的地下地质情况，其必须通过足够多的测点才能做出较准确的推断，故测量速度较慢；且只能了解某一点的总体上的纵向电性差异和总体上的横向电性差异，即总体上的二维电性反映，无法准确反映某一点的不同深度三维电性的各向异性；即三维解释仍然是由二维向两边延伸而得到；同时目前的测试方法还受到地形地貌的限制，需要较大的观测场地才能满足观测需要。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的是提供一种不同深度地质各向异性的环形探测方法，通过探测不同深度地电的各向异性来快速判断不同深度地质的各向异性，同时解决了目前剖面或单点频率测深方法中，由于天然场源随时间变化而引起在同一物理观测点，不同时刻的观测数据发生变化，而给不同时刻各观测点的观测数据精细比对造成不利影响，降低观测质量的问题。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

不同深度地质各向异性的环形探测方法，具体步骤为：

（1）观测点设计：

在测试区域内设置一个圆周，在同一圆周上布置m对电极，分别为n₁和n₁'，n₂和n₂'、n₃和n₃'、n₄和n₄'……n_m和n_m'组成m 组电极对，其中，m≥4；n₁和n₁'、n₂和n₂'、n₃和n₃'、n₄和n₄'……n_m和n_m'分别在同一直径上；圆周上布置的各电极对之间的电位差不小于0.1mv；

（2）电位差测试

同一时刻对电极组进行同一频率的电位观测，测量电极组之间的电位差分别为Vn₁-n₁'、Vn₂-n₂'、Vn₃-n₃'、Vn₄-n₄'……Vn_m-n_m'；

（3）测试数据的处理与分析