[发明专利]二次电池检查装置及二次电池检查方法

说明书

本发明涉及二次电池检查装置，其包括：支撑部，支撑包括一个以上的二次电池的二次电池组；X射线源，对上述二次电池组照射X射线；以及X射线探测器，检测从上述X射线源产生并透过上述二次电池组的X射线，上述二次电池组分为关注区域和非关注区域，上述支撑部使上述二次电池组原地旋转，在上述X射线源拍摄上述关注区域的情况以及拍摄上述非关注区域的情况下，多个X射线照射点之间的分割角度及X射线照射时间中的一个以上具有差别。本发明将二次电池分为与次品检测相关度高的关注区域和在二次电池中与次品检测及质量检查的相关度低的非关注区域，控制检测影像时的设定值，尽管同时检查多个二次电池，但影像质量不会下降，可确保检查的可靠性。

技术领域

本发明涉及二次电池检查装置，更详细地涉及如下的二次电池检查装置，即，将二次电池分为与次品检测相关度高的关注区域和在二次电池中与次品检测及质量检查的相关度低的非关注区域，区分这种关注区域和非关注区域中的X射线拍摄分割角度及X射线照射时间，尽管同时检查多个二次电池，但是所检测的影像的质量不会下降，因此可确保检查结果的可靠性。

背景技术

由于二次电池内部层叠形成有多个电极层，在电极层的端部彼此粘附时等的情况下，很可能发生短路，因此二次电池在出库前必须进行筛选次品的工序。

用于检查二次电池是否有缺陷的以往的检查装置均匀地拍摄每个二次电池并在3D重建(reconstruction)处理后，通过检测在预设部分中的断层并检查电极之间的突出程度，即，层叠二次电池的内部电极层的排列(align)的程度(悬垂(Overhang)检查)来确定该二次电池是优质品或次品。

此时，只能通过检查每个二次电池来判断次品二次电池与否，由于需要消耗大量检查时间，认为不可能检查在实际产业现场中生产的二次电池的总量，因此存在仅限于随机检查部分二次电池的问题。

并且，由于现有技术力的限制，仅通过部分二次电池的抽样检查结果不可能筛选所有次品，因此还存在难以保障市售的二次电池的安全性的问题。

并且，在一次性检查多个二次电池而不是一一检查二次电池的情况下，由于所检测的影像中的二次电池的面积变宽，因此还存在图像的分辨率降低且检查结果的精度降低的问题。

并且，由于均匀地拍摄二次电池的所有角度，因此还存在为了鉴别二次电池不良与否不仅要检测必要的部分的影像，而且还要检测不需要的部分的影像，因而检查时间长并且无效率性的问题。

现有技术文献

专利文献

专利文献0001：韩国专利授权号第10-0745586号(电池检查装置)。

发明内容

本发明为了解决如上所述的技术问题而提出，其目的在于，提供如下的二次电池检查装置，即，将二次电池分为与次品检测相关度高的关注区域和在二次电池中与次品检测及质量检查的相关度低的非关注区域，控制影像检测时的设定值，二尽管同时检查多个二次电池，但是所检测的影像的质量不会下降，因此可确保检查结果的可靠性。

并且，提供一种可同时检查多个二次电池，从而可快速地检查总量的二次电池检查装置。

并且，提供一种可通过检查生产的二次电池总量来筛选次品，从而可确保二次电池的安全性的二次电池检查装置。

由本领域技术人员通过本发明的优选实施例使本发明的上述目的和各种优点将变得更加明确。

用于实现上述目的的本发明的二次电池检查装置的特征在于，包括：支撑部，支撑包括一个以上的二次电池的二次电池组；X射线源，对上述二次电池组照射X射线；以及X射线探测器，检测从上述X射线源产生并透过上述二次电池组的X射线，上述二次电池组分为关注区域和非关注区域，在上述X射线源拍摄上述关注区域的情况以及拍摄上述非关注区域的情况下，多个X射线照射点之间的分割角度及X射线照射时间中的一个以上具有差别。