[发明专利]一种针对再提交批次的计量值抽样计划方法

说明书

本发明特别涉及一种针对再提交批次的计量值抽样计划方法。该针对再提交批次的计量值抽样计划方法，为了提高抽样效率，在再提交批次的计量值抽样计划中使用寿命性能指标C_L；依据产品寿命性能指数C_L服从Burr Ⅻ分布的生产过程，通过构造产品寿命性能指数C_L与产品合格率p之间的操作特性OC曲线，使得模型参数同时满足给定的生产者风险α和消费者风险β，根据样本的最大似然估计值(MLE)与关键验收值C₀的对比结果，判定样本是否合格。该针对再提交批次的计量值抽样计划方法，准确率高，应用范围广泛，适于应用于制造业产品的验收检验过程，既能提高产品验收准确率，又能提高产品验收的工作效率，适于推广应用。

技术领域

本发明涉及统计学抽样检验技术领域，特别涉及一种针对再提交批次的计量值抽样计划方法。

背景技术

在现代工业中，很多产品是在较短时间内生产出来的，所以不可能做到100％的检验但又不能不检验，于是就产生了验收抽样计划。验收抽样计划被广泛应用于统计质量控制中，以确保产品的合格率。设计良好的验收抽样方案不仅能确保批次产品的合格率，而且能够节省企业的时间成本提升企业生产效率。

验收抽样计划的参数由操作特性曲线上的两点确定，一个点是可接受质量水平(AQL)，另一个点为批允许不良率(LTPD)。这里将用α(Ⅰ类错误)代表拒绝一批产品的概率，即生产者风险，用β(Ⅱ类错误)表示接受一批不合格产品的概率，即消费者风险。对于生产者来说，要求批接受概率至少为可接受质量水平(AQL)的1-α。对于消费者来说，希望批接受概率小于批允许不良率(LTPD)的β。

验收抽样计划的应用主要集中于两种类型抽样方案。计数值抽样计划仅使用“合格”或是“不合格”来表示产品的质量特征。计量值抽样计划必须知道产品的质量特性分布，在某些情况下具有更好的性能。由于计量值数据比计数值数据提供了更多关于制造过程或批次的信息，即使在样本量较小的情况下，计量值抽样计划在制造业的产品检测中也更具优势。而且，传统的计量值抽样是单抽样，通常取一个样本进行检验。在某些情况下，当生产商对第一次抽样的结果提出质疑，并且按照规定可以要求重新取样时，就需要对批次进行再抽样。因此，再抽样计划为生产商提供了在第一次检验不合格时再次检查批次的机会。通常，供应商对货物批次比较了解，也乐于接受再抽样的流程。

近年来发展出结合过程能力分析的计量值抽样计划。过程能力分析是对生产过程性能和潜在能力进行数值度量的有效方法。当对缺陷部分的AQL要求很低时，过程能力指数C_pk被许多研究人员应用于验收抽样方案中。上述研究都是基于假定C_pk服从正态分布，产品的寿命服从Gamma分布或Weibull分布。寿命性能指数C_L通常用于那些质量特性值越大越好的产品的寿命性能分析。寿命性能指数C_L被推荐用于评估电子元器件的寿命性能。

基于上述情况，本发明提出了一种针对再提交批次的计量值抽样计划方法。

发明内容

本发明为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种简单高效的针对再提交批次的计量值抽样计划方法。

本发明是通过如下技术方案实现的：

一种针对再提交批次的计量值抽样计划方法，其特征在于：为了提高抽样效率，在再提交批次的计量值抽样计划中使用寿命性能指标C_L；依据产品寿命性能指数C_L服从BurrⅫ分布的生产过程，通过构造产品寿命性能指数C_L与产品合格率p之间的操作特性OC曲线，使得模型参数同时满足给定的生产者风险α和消费者风险β，根据样本的最大似然估计值(MLE)与关键验收值C₀的对比结果，判定样本是否合格。

本发明针对再提交批次的计量值抽样计划方法，包括以下步骤：