[发明专利]确定有机发光器件的效率劣化的方法和显示器系统

说明书

本发明涉及确定有机发光器件的效率劣化的方法和显示器系统。其中，所述方法包括：根据多个不同应力条件来电驱动与选定的有机发光器件类似的多个有机发光器件中的有机发光器件；针对每个有机发光器件，周期性地测量电学运行参数，并且使用光传感器周期性地测量效率劣化，生成相对应的针对不同应力条件的测量结果，光传感器在基于阵列的半导体器件上并且在包括有机发光器件的像素阵列的像素中或者与该像素相邻；基于电学运行参数基准，测量选定的有机发光器件的电学运行参数的变化；确定选定的有机发光器件的应力条件；以及使用针对不同应力条件的测量结果、电学运行参数的变化，以及所确定的应力条件来确定选定的有机发光器件的效率劣化。

本申请是申请日为2015年5月22日、发明名称为“提取有机发光器件的关联曲线的系统和方法”的申请号为201510267035.6的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明大体上涉及使用诸如OLED之类的发光器件的显示器，且更具体地涉及为了补偿发光器件的老化而在此类显示器中提取不同应力条件下的特性关联曲线。

背景技术

相对于常规液晶显示器，有源矩阵有机发光器件(AMOLED)显示器提供了更低的功耗、制造灵活性和更快的刷新速率的优点。与常规液晶显示器相比，AMOLED显示器中不存在背光，这是因为每个像素由独立发光的不同颜色的OLED构成。OLED基于由驱动晶体管提供的电流发光。驱动晶体管通常是薄膜晶体管(TFT)。每个像素的功耗与该像素中产生的光的大小具有直接的关系。

在有机发光二极管器件的运行期间，其遭受劣化，这导致恒定电流下的光输出随着时间减小。OLED器件还遭受电学劣化，这导致恒定偏置电压下的电流随着时间降低。这些劣化基本上是由与OLED上的施加电压的大小和持续时间以及由此在该器件中产生的电流相关的应力引起的。这类劣化由于诸如温度、湿度或氧化剂的存在之类的环境因素的随时间的贡献而混合在一起。薄膜晶体管器件的老化速率也取决于环境和应力(偏置)。针对先前数次存储的像素历史数据来校准像素，以确定像素上的老化效应，从而可适当地确定像素晶体管和OLED的老化。因此，在显示装置的整个寿命期间需要精确的老化数据。

在一种OLED显示器补偿技术中，提取像素面板的老化(和/或均匀性)并将其作为原始的或经处理的数据存储在查找表中。接着，补偿模块使用所存储的数据来补偿OLED的电学参数和光学参数的任何偏移(例如，OLED运行电压和光学效率的偏移)以及背板的电学和光学参数的任何偏移(例如，TFT的阈值电压偏移)，因而根据所存储的数据和视频内容来修改每个像素的编程电压。补偿模块按照使足够的电流经过OLED以针对每个灰度水平保持相同的亮度水平的方式修改驱动TFT的偏置。换句话说，合适的编程电压适当地抵消了OLED的电学老化和光学老化以及TFT的电学劣化。

在显示器的寿命期间，通过基于电学反馈的测量电路持续地监测并提取背板TFT和OLED器件的电学参数。进一步，根据OLED的电学劣化数据来估计OLED器件的光学老化参数。然而，OLED的光学老化效应也取决于单独像素上的应力条件，且由于应力在像素间变化，所以不能确保精确的补偿，除非确定出适合于具体应力水平的补偿。

因此，对于有源像素上的应力条件，需要有效地提取精确的光学参数和电学参数的特性关联曲线以用于补偿老化效应和其它效应。对于有源像素在显示器的运行期间可能经受的各种应力条件，需要具有各种特性关联曲线。

发明内容

根据一个实施例，提供了一种用于确定基于阵列的半导体器件中的有机发光器件(OLED)的效率劣化的系统，所述半导体器件具有像素的阵列，且所述像素包括OLED。在所述系统中，针对至少一个应力条件，确定所述OLED的电学运行参数的变化与所述OLED的所述效率劣化之间的关系；测量所述OLED的所述电学运行参数的变化；确定所述半导体器件中的至少一个像素或像素组的应力条件；以及通过使用所确定的关系和所确定的应力条件，确定所述OLED的与所述OLED的所述电学运行参数的所测量的变化相对应的所述效率劣化。