[发明专利]物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法及其系统在审
| 申请号: | 201910987171.0 | 申请日: | 2019-10-17 |
| 公开(公告)号: | CN112683788A | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
| 发明(设计)人: | 蔡昆佑;杨博宇 | 申请(专利权)人: | 神讯电脑(昆山)有限公司;神基科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/956 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 物件 表面 可能 缺陷 影像 检测 扫描 方法 及其 系统 | ||
1.一种物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统,适用于检测一物件,其特征在于,包含:
一驱动组件,承载所述物件,其中该物件的表面沿一延伸方向划分为若干个表面区块,且该驱动组件依序位移该若干个表面区块的其中之一至一检测位置;
一光源组件,面向该检测位置配置,提供一检测光线以照射该检测位置,且相对于位于该检测位置的该表面区块的一正向法线,该检测光线的一光入射角小于或等于90度;
一感光元件,面向该检测位置配置,撷取依序位于该检测位置上的该表面区块的检测影像,且在撷取该表面区块的检测影像前根据一测试光线撷取一测试影像,其中该感光元件的一感光轴平行于该正向法线或介于该正向法线与该延伸方向之间;
一处理器,耦接该感光元件,根据该测试影像判断该感光元件的一设定参数是否正常,当该设定参数异常且该感光元件已执行相应该设定参数的一调校作业时,该处理器产生一警示信号。
2.如权利要求1所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统,其特征在于,该处理器判断该测试影像的一平均亮度是否符合一预设亮度,以判断该设定参数是否正常。
3.如权利要求1所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统,其特征在于,该设定参数包含一感光值、一曝光值、一焦距值、一对比度设定值或前述项目所形成的任一组合。
4.如权利要求1所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统,其特征在于,当该设定参数异常且该感光元件未执行该调校作业时,该处理器驱使该感光元件执行该调校作业。
5.如权利要求4所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统,其特征在于,该感光元件在该调校作业中根据一参数设定档调整该设定参数,并根据调整后的该设定参数撷取另一测试影像。
6.如权利要求1所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描系统,其特征在于,当该设定参数正常时,该处理器始驱使该驱动组件依序位移该若干个表面区块至该检测位置,且驱使该感光元件撷取依序位于该检测位置上的该表面区块的检测影像。
7.一种物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法,适用于检测一物件,其特征在于,包含:
以一感光元件根据一测试光线撷取一测试影像;
以一处理器根据该测试影像判断该感光元件的一设定参数是否正常;
当该设定参数异常时,产生一警示信号;
当该设定参数正常时,执行一检测程序;
以一驱动组件在该检测程序中依序位移所述物件沿其表面的一延伸方向划分的若干个表面区块中的其之一至一检测位置;
以面向该检测位置的一光源组件在该检测程序中提供一检测光线,其中相对位于该检测位置的该表面区块的一正向法线,该检测光线以小于或等于90度的一光入射角照射该检测位置;
以该感光元件在该检测程序中面向该检测位置,其中该感光元件的一感光轴平行于该正向法线或介于该正向法线与该延伸方向之间;
以该感光元件在该检测程序中根据该检测光线撷取依序位于该检测位置上的各该表面区块的一检测影像。
8.如权利要求7所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法,其特征在于,在产生该警示信号的步骤中,于该设定参数异常且该感光元件已执行相应该设定参数的一调校作业时产生该警示信号。
9.如权利要求7所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法,其特征在于,在以该处理器根据该测试影像判断该设定参数是否正常的步骤中,该处理器判断该测试影像的一平均亮度是否符合一预设亮度,以判断该设定参数是否正常。
10.如权利要求7所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法,其特征在于,还包含:
当该设定参数异常时,驱使该感光元件执行一调校作业。
11.如权利要求10所述的物件表面可能缺陷的影像检测扫描方法,其特征在于,执行该调校作业的步骤包含:
根据一参数设定档调整该感光元件的该设定参数;
以该感光元件根据调整后的该设定参数撷取另一测试影像。
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