[发明专利]一种支撑装置在审

专利信息
申请号: 201910971175.X 申请日: 2019-10-12
公开(公告)号: CN110686628A 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 杨微微;张明;孙丽红;杜娟;祝剑飞 申请(专利权)人: 哈尔滨飞机工业集团有限责任公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01M13/00;F16M11/04;F16M11/18
代理公司: 11008 中国航空专利中心 代理人: 张毓灵
地址: 150066 黑龙*** 国省代码: 黑龙;23
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摘要:
搜索关键词: 底座 调节组件 定位支架 量规 螺纹综合测量仪 支撑装置 连接轴 上端 立柱 滑动连接 螺纹 支撑 左端 测量 检测
【说明书】:

发明提供,一种支撑装置,用于螺纹综合测量仪进行量规检测时支撑量规,所述螺纹综合测量仪包括立柱,其特征在于,所述支撑装置包括底座3、连接轴2、定位支架4、调节组件,所述连接轴2的一端与所述底座3的左端固定连接,另一端滑动连接于螺纹综合测量仪的立柱;所述底座3的右端设置有调节组件;所述定位支架4通过调节组件连接于所述底座3的上端,所述调节组件用于调节所述定位支架4相对所述底座3上端面的距离;所述定位支架4用于支撑量规的一端。

技术领域

本发明属于长度测量技术领域,涉及基于螺纹综合测量仪的大尺寸量规检测用的支撑装置。

背景技术

大尺寸量规技术参数检测可通过立式测长仪、锥体测微仪及螺纹综合测量仪等测量设备实现。其中,螺纹综合测量仪的使用在国内已经得到行业内的认可,螺纹综合测量仪具有接触式的2维扫描功能,由超精加工的仪器导轨基准轴构成了两维空间轴系,测量面精准地定位在被测螺纹轴向剖面上,双测尖T型测头在被测螺纹轴向剖面的上、下轮廓表面连续的扫描,完成扫描后电脑会直接计算出各种参数。螺纹综合测量仪根据尺寸配备相应的测量支撑,可以实现内尺寸测量范围小于160mm、外尺寸测量范围小于155mm的量规检测。

现有的螺纹综合测量仪测量各种螺纹量规时采用的安装方式为量规一头放置在对应规格的测量支撑上,另一头放置在垂直于工作台的立柱上,由可以沿立柱上下滑动的平面支撑固定,探针在螺纹量规上下两个截面扫描给出测量结果。量规上下两个截面是否平行,两端是否同心直接影响测量结果。

现有的大尺寸量规采用的检测方法是:在平面支撑一侧的量规下面放置垫高块,垫高块与量规底面接触进而承重,以保证量规两端同心。因此,不同规格的量规要选择适当高度的垫高块,以保证量规两端同心,这就需要较长的时间来调整组合垫高块,而且垫高块尺寸或组合尺寸可能存在不完全满足检测要求的情况,这就严重影响了工作效率,而且人工选择垫高块无法装夹固定,极易造成检测结果的不稳定。因此,在大尺寸量规的检测支撑上,采用目前的方法会受限于垫高块的选择,如果垫高块选用的不够精准,就会导致量规两端的不同心,将影响到量规测量结果的准确性。

发明内容

本发明的目的是提供一种支撑装置,用于螺纹综合测量仪进行量规检测时支撑量规,带有自动升降调节功能,适用于尺寸大于95mm的量规参数检测,解决大尺寸量规检测时固定难的问题。

本发明提供一种支撑装置,用于螺纹综合测量仪进行量规检测时支撑量规,所述螺纹综合测量仪包括立柱,所述支撑装置包括底座3、连接轴2、定位支架4、调节组件,

所述连接轴2的一端与所述底座3的左端固定连接,所述连接轴2的另一端滑动连接于螺纹综合测量仪的立柱;所述底座3的右端设置有调节组件;

所述定位支架4通过调节组件连接于所述底座3的上端,所述调节组件用于调节所述定位支架4相对所述底座3上端面的距离;所述定位支架4用于支撑量规的一端。

进一步地,所述调节组件包括升降杆6、驱动块8,所述底座3的右端面开设有槽孔,

所述驱动块8穿设于所述底座3右端面的槽孔内,所述驱动块8为圆柱体,所述驱动块8的周向设置有外螺纹;

所述升降杆6的一端与所述定位支架4固定连接,所述升降杆6的外表面设置有外螺纹;

所述升降杆6穿设于所述底座3,并与所述驱动块8螺纹配合;所述驱动块8转动,带动所述升降杆6升降,所述升降杆6带动所述定位支架4升降。

进一步地,所述支撑装置还包括定位杆5,所述定位杆5的一端与所述底座3固定连接,另一端穿设于所述定位支架4,用于对所述定位支架4进行限位。

进一步地,所述调节组件包括挡板7,所述挡板7中部开设有通孔,所述驱动块8穿设于所述底座3的槽孔和挡板7的通孔内;

所述挡板7将所述驱动块8限位在所述底座3右端面的槽孔内。

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