[发明专利]LED发光检测系统及LED发光检测方法

说明书

本发明提供一种LED发光检测系统，包括光检测装置、可调滤光器和成像镜头组，成像镜头组设置在可调滤光器和LED芯片阵列之间，光检测装置用于采集LED芯片阵列中各个LED芯片在通过可调滤光器和成像镜头组后的发光强度，可调滤光器具有位置可调的滤光区域。本发明能够快速对LED芯片进行发光功率检测，且成本较低。

技术领域

本发明涉及LED领域，尤其涉及一种LED发光检测系统及LED发光检测方法。

背景技术

MicroLED显示系统生产需要使用大批量生产的微型LED芯片。而大批量的LED在晶圆表面外延生长加工过程中，存在LED发光功率和发光光谱一致性问题，需要进行在线监测和记录。

传统LED生产工艺中的检测流程中，通过光谱仪等光检测装置和使用固定式滤光片检测LED发光功率和光谱一致性，LED发出的光线会透过固定式滤光片，从而只有特定波长的光线会照射在光检测器上，光检测器由此检测LED在该波长范围的发光功率。该波长范围检测完毕后，手动切换滤光片，继续检测下一波长，从而对LED的发光功率和发光光谱的一致性进行检测。

然而，常规LED检测设备对LED芯片的检测效率较低，难以完成大批量的LED芯片发光功率检测。

发明内容

本发明提供一种LED发光检测系统及LED发光检测方法，能够快速对LED芯片进行发光功率检测，且成本较低。

第一方面，本发明提供一种LED发光检测系统，包括光检测装置、可调滤光器和成像镜头组，成像镜头组设置在可调滤光器和LED芯片阵列之间，光检测装置用于采集LED芯片阵列中各个LED芯片在通过可调滤光器和成像镜头组后的发光强度，可调滤光器具有位置可调的滤光区域，以及在该滤光区域内可调的透过光谱窗口。

第二方面，本发明提供一种LED发光检测方法，该方法应用于如上所述的LED发光检测系统，该方法具体包括：

先点亮LED芯片阵列；再将可调滤光器的滤光区域顺次调节至不同位置，以使可调滤光器在单次滤光时允许LED芯片阵列中的部分LED芯片的光通过，其中不同滤光区域的位置与LED芯片阵列中不同LED芯片相对应；再获得LED芯片阵列中每颗或每组LED芯片的发光功率和光谱特性。

本发明提供的LED发光检测系统及LED发光检测方法，LED发光检测系统具体可以包括光检测装置、可调滤光器和成像镜头组等组成部分；其中，成像镜头组设置在可调滤光器和LED芯片阵列之间，光检测装置用于采集LED芯片阵列中，各个LED芯片在通过可调滤光器和成像镜头组后的发光强度，可调滤光器具有位置可调的滤光区域。这样检测过程较为快捷，能够快速检测LED芯片的发光强度和光谱等参数，可以实现低成本、高速度的LED芯片光学检测功能。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例一提供的一种LED发光检测系统的结构示意图；

图2a是本申请实施例一提供的可调滤光器的滤光区域对应第一位置或第一入射角度时的示意图；

图2b是本申请实施例一提供的可调滤光器的滤光区域对应第二位置或第二入射角度时的示意图；

图3是本申请实施例一提供的另一种LED发光检测系统的结构示意图；

图4是本申请实施例二提供的LED发光检测方法的流程示意图。

具体实施方式