[发明专利]转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法和装置

权利要求书

1.一种转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法，其特征在于，所述方法包括：

根据故障表进行动态测试精简，生成第一测试集合；

根据测试压缩结构将所述第一测试集合扩展为第二测试集合，根据所述第二测试集合进行静态测试精简，所述测试压缩结构包括软件定义线性反馈移位寄存器SLFSR和相移器；

所述根据故障表进行动态测试精简，生成第一测试集合，还包括测试压缩环境下基于扫描树的动态测试精简步骤：

基于两帧电路模型对扫描触发器分组并构造扫描树；

从所述故障表中随机选择一个目标故障f及其对应的ST故障集合，对于无测试压缩逻辑的两帧电路模型产生故障f的测试码T，并从所述故障表中删除f；

对ST中任一故障f₁，在T的取值约束下执行动态测试精简，若产生测试，则从所述故障表中删除f₁，更新所述测试码 T；

对未检测故障表执行故障模拟，从所述未检测故障表中删除故障模拟覆盖的故障，并更新所述未检测故障表对应的测试集合，所述未检测故障表为所述故障表进行删除操作后剩余故障的故障表；

重复以上步骤，直至所述未检测故障表空为止，得到第一测试集合。

2.根据权利要求1所述的转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法，其特征在于，所述根据测试压缩结构将所述第一测试集合扩展为第二测试集合，根据所述第二测试集合进行静态测试精简，还包括测试压缩环境下基于扫描树的静态测试精简步骤：

获取基于扫描树的动态测试精简完成后得到的第一测试集合TT1＝{t₁,t₂,…,t_n}，所述第一测试集合中每个测试t_i携带故障表F(t_i)，i为大于等于1小于等于n的整数；

根据所述第一测试集合选择最低度数的软件定义线性反馈移位寄存器SLFSR及实现的本原多项式，选择外部扫描输入的数目，对TT1中的每个测试t_i，计算外部扫描链数目及需要移入的外部附加变量的轮数；

对TT1中任意测试t_i，将预先计算好的SLFSR的种子置入SLFSR；将预先计算好的外部扫描输入的附加变量通过外部扫描输入，并根据相移器扩展到所有扫描单元获得新的测试t_i’，得到第二测试集合TT2＝{t₁’,t₂’,…,t_n’}；

针对电路完全故障表F＝{f₁,f₂,…,f_m}，对每一个TT2的测试t_i’做无故障丢弃故障模拟，对每一个测试t_i’得到所述测试检测到的全部故障集合F₁(t_i’)；

识别TT2中的必要测试子集ET＝{et₁’,et₂’,…,et_m’}，所述必要测试子集ET满足：对于任何et_j’∈ET，存在至少一个故障f，f只被et_j’检测，j为大于等于1小于等于m的整数；

对于任何测试t_i∈TT1，若t_i检测到的故障集合满足则从TT1中删除t_i，否则将t_i置入ET中；

若上轮循环删除的测试数目达到给定比例，改变测试处理顺序，重复操作，直到本轮静态测试精简删除数目不能达到给定比例；

输出最终的测试集合TT1。