[发明专利]一种用于LDO自适应漏电补偿的电路在审
申请号: | 201910961954.1 | 申请日: | 2019-10-11 |
公开(公告)号: | CN110568895A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 杨红伟;吴建刚 | 申请(专利权)人: | 思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司 |
主分类号: | G05F1/567 | 分类号: | G05F1/567 |
代理公司: | 32102 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 陈忠辉 |
地址: | 215123 江苏省苏州市工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 漏电流 采样 自适应补偿电路 温度变换环境 优化设计参数 输出稳定性 误差放大器 漏电 输出 静态电流 接地 常温下 共漏极 共源极 共栅极 自适应 共源 漏极 源极 供电 跟踪 应用 | ||
本发明揭示了一种用于LDO自适应漏电补偿的电路,其中LDO的供电PMOS管MPP的栅极与误差放大器EA的输出相接,其特征在于:电路接设于MPP的源极与漏极之间,且电路由采样PMOS管MPS和一对NMOS管相接构成,其中MPS的栅极和MPP、MPS的共源极均接输入VIN,MPP与MN2的共漏极为输出VOUT,MPS与MN1的共漏极相接于MN1、MN2的共栅极,两个NMOS管共源接地;且MPS和MPP的尺寸比例为1:K1,MN1和MN2的尺寸比例为1:K2,K2大于K1。应用本发明的自适应补偿电路,其结构简单、实用,通过采样PMOS管自适应地跟踪所产生的漏电流,并通过相连的一对NMOS管完全拉除漏电流,从而能够保障温度变换环境下LDO的输出稳定性,且常温下电路无静态电流产生,有利于优化设计参数。
技术领域
本发明涉及一种LDO性能优化的电路设计,尤其涉及一种LDO应对温度波动自适应进行漏电补偿的电路。
背景技术
LDO即low dropout regulator,是一种低压差线性稳压器,这是相对于传统的线性稳压器来说的。传统的线性稳压器,如78XX系列的芯片都要求输入电压要比输出电压至少高出2V~3V,否则就不能正常工作。但是在一些情况下,这样的条件显然是太苛刻了,如5V转3.3V,输入与输出之间的压差只有1.7v,显然这是不满足传统线性稳压器的工作条件的。针对这种情况,芯片制造商们才研发出了LDO类的电压转换芯片。
LDO是一种线性稳压器,使用在其饱和区域内运行的晶体管或场效应管(FET),从应用的输入电压中减去超额的电压,产生经过调节的输出电压。所谓压降电压,是指稳压器将输出电压维持在其额定值上下100mV之内所需的输入电压与输出电压差额的最小值。正输出电压的LDO(低压降)稳压器通常使用功率晶体管(也称为传递设备)作为PNP。这种晶体管允许饱和,所以稳压器可以有一个非常低的压降电压,通常为200mV左右;与之相比,使用NPN复合电源晶体管的传统线性稳压器的压降为2V左右。负输出LDO使用NPN作为它的传递设备,其运行模式与正输出LDO的PNP设备类似。
然而正输出电压的LDO,当运行环境高温化后,其供电MOS管(即POWER MOS)将会产生正比性增大的漏电流,若LDO运行状态下负载电流小于该漏电流,则LDO的输出性能将大打折扣,出现不正常。
发明内容
本发明的目的旨在提出一种用于LDO自适应漏电补偿的电路,消除高温环境下自生漏电流对LDO输出性能的影响。
本发明实现上述目的的技术解决方案是,一种用于LDO自适应漏电补偿的电路,其中LDO的供电PMOS管MPP的栅极与误差放大器EA的输出相接,其特征在于:所述电路接设于电源PMOS管MPP的源极与漏极之间,且电路由采样PMOS管MPS和一对NMOS管相接构成,其中采样PMOS管MPS的栅极和两个PMOS管MPP、MPS的共源极均接输入VIN,电源PMOS管MPP与NMOS管MN2的共漏极为输出VOUT,采样PMOS管MPS与NMOS管MN1的共漏极相接于NMOS管MN1、MN2的共栅极,两个NMOS管共源接地;且采样PMOS和电源PMOS的尺寸比例为1:K1,NMOS管MN1和MN2的尺寸比例为1:K2,K2大于K1。
进一步地,所述误差放大器EA的一个输入端接入参考电压VREF,另一个输入端接入负载反馈电压VFB。
进一步地,所述尺寸比例中,K2为K1的N倍以上,N为大于2的自然数。
应用本发明的自适应补偿电路的改良设计,具备突出的实质性特点和显著的进步性:该电路结构简单、实用,通过采样PMOS管自适应地跟踪所产生的漏电流,并通过相连的一对NMOS管完全拉除漏电流,从而能够保障温度变换环境下LDO的输出稳定性,且常温下电路无静态电流产生,有利于优化设计参数。
附图说明
图1是本发明用于LDO自适应漏电补偿的电路结构示意图。
具体实施方式
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