[发明专利]一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置有效
申请号: | 201910927740.2 | 申请日: | 2019-09-27 |
公开(公告)号: | CN110487405B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 孙慈;崔继承;姚雪峰;杨晋;冯树龙;宋楠;王明佳;李天骄 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 孙晓红 |
地址: | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 推扫式 成像 光谱仪 几何 定标 装置 | ||
本发明公开了一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置,包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统,其中:狭缝微动系统设于光源系统和准直系统之间,光源系统用以发出连续光至狭缝微动系统,狭缝微动系统用以调节进入准直系统的光线的入射角度,准直系统用以将经狭缝微动系统调节的光线转变为准直光线射入摆镜系统,摆镜系统用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。上述推扫式成像光谱仪的几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫,从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标,它可以解决由于配置相应设备而导致造价昂贵的问题,从而可以在一定程度上降低几何定标装置的研发成本。
技术领域
本发明涉及光谱成像技术领域,特别涉及一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置。
背景技术
推扫式成像光谱仪可同时获得目标的一维光谱信息和二维图像信息,在天文、地质、化工、医疗等领域都有着广泛的应用。
成像光谱仪在应用过程中,用户希望能够得到真实的、精确的、无畸变的图像信息和光谱信息,获得目标空间位置的准确与否直接影响到信息捕获质量的好坏,尤其在军事领域对这种信息捕获的误判将导致灾难性的后果。因此,在成像光谱仪使用之前,通过对成像光谱仪的检测和评估,验证其工作性能的稳定性,就显得至关重要。几何定标的目的是建立光谱影像与地物目标间的几何位置关系,成像光谱仪几何定标的精度很大程度上依赖于光线入射角度的准确性和相邻入射角度的分辨率,目前,成像光谱仪几何定标系统基本上都是采用平行光管与高精度转台的组合,采用此类几何定标装置需要高精度、高分辨率的旋转台,造价昂贵,且对控制系统稳定性要求很高,现有的一些几何定标装置已不能满足需求。
因此,如何避免由于现有几何定标装置需要高精度转台而导致研发成本较高是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置,该几何定标装置可以实现对待定标成像光谱仪单个像元的精细摆扫,从而完成对待定标成像光谱仪的几何定标,它可以解决由于高精度、高分辨率旋转台而导致的造价昂贵的问题,从而可以降低几何定标装置的研发成本。
为实现上述目的,本发明提供一种推扫式成像光谱仪的几何定标装置,包括光源系统、狭缝微动系统、准直系统和摆镜系统,其中:
所述狭缝微动系统设于所述光源系统和所述准直系统之间,所述光源系统用以发出连续光至所述狭缝微动系统,所述狭缝微动系统用以精细调节进入所述准直系统的光线的入射角度,所述准直系统用以将经所述狭缝微动系统调节的光线转变为准直光线射入所述摆镜系统,所述摆镜系统用以调节进入待定标成像光谱仪的探测器的光线的入射角度。
可选地,所述光源系统包括:
光源;
用以放置所述光源的光源座;
还包括:第一平面镜、第一球面镜和出射狭缝,其中:
所述第一平面镜用以将所述光源发出的连续光反射至所述第一球面镜;
所述第一球面镜用以将经所述第一平面镜反射的光线会聚并转射至所述出射狭缝;
所述出射狭缝用以将经所述第一球面镜会聚的光线射出至所述狭缝微动系统。
可选地,所述狭缝微动系统包括:
与所述出射狭缝垂直设置的微动狭缝,所述微动狭缝竖直设置;
用以固定安装所述微动狭缝并能够带动所述微动狭缝以预设方向运动的挡板;
设有转轴的第一电机;
与所述转轴配合连接并能够推动所述挡板沿垂直于所述转轴的轴向运动的楔形滑块;
所述第一电机用以驱动所述转轴、以供所述楔形滑块沿所述转轴的轴向运动。
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