[发明专利]一种接口测试方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种接口测试方法，其特征在于，所述方法包括：

采集生产环境数据；

将所述生产环境数据确定为原始测试数据；

将设定个数的原始测试数据所在的点，确定为簇中心点；遍历所有的原始测试数据，计算各个原始测试数据所在的点与各个簇中心点之间的距离；确定与各个原始测试数据所在的点距离最近的簇中心点；将各个原始测试数据归入对应的最近的簇中心点，以形成设定个数的簇，其中，所述簇为相似的原始测试数据的集合；根据各个簇的轮廓系数，确定聚类个数；基于所述聚类个数，选取性能最佳的簇；将所述性能最佳的簇，确定为聚类分析的第一结果；

基于层次聚类算法对所述第一结果进行聚类分析，以得到聚类分析的最终结果；根据所述聚类分析的最终结果，从所述生产环境数据中确定最终测试数据；

根据所述最终测试数据对所述接口进行测试，得到最终测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于原始测试数据，建立数据特征集；

根据所述数据特征集的类型，确定计算各个原始测试数据所在点的距离的度量方法；

基于所述距离的度量方法，确定各个原始测试数据所在点之间的距离。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述最终测试数据对所述接口进行测试，得到最终测试结果，包括：

将根据所述最终测试数据对接口进行测试的初始测试结果，与设定测试结果进行比较，得到比较结果；

根据所述比较结果，确定最终测试结果。

4.一种接口测试装置，其特征在于，所述装置包括：

采集单元，用于采集生产环境数据；

分析单元，包括：第一分析模块和第二分析模块；

其中，所述第一分析模块包括：

确定子模块，用于将所述生产环境数据确定为原始测试数据；

第一分析子模块，用于将设定个数的原始测试数据所在的点，确定为簇中心点；遍历所有的原始测试数据，计算各个原始测试数据所在的点与各个簇中心点之间的距离；确定与各个原始测试数据所在的点距离最近的簇中心点；将各个原始测试数据归入对应的最近的簇中心点，以形成设定个数的簇，其中，所述簇为相似的原始测试数据的集合；根据各个簇的轮廓系数，确定聚类个数；基于所述聚类个数，选取性能最佳的簇；将所述性能最佳的簇，确定为聚类分析的第一结果；

所述第二分析模块包括：

第二分析子模块，用于基于层次聚类算法对所述第一结果进行聚类分析，以得到聚类分析的最终结果；

第一确定单元，用于根据所述聚类分析的最终结果，从所述生产环境数据中确定最终测试数据；

第二确定单元，用于根据所述最终测试数据对所述接口进行测试，得到最终测试结果。

5.一种接口测试装置，其特征在于，所述接口测试装置至少包括：处理器和用于存储能够在所述处理器上运行的可执行指令的存储器，其中：

处理器用于运行所述可执行指令时，所述可执行指令执行上述权利要求1至3任一项提供的接口测试方法。

6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现上述权利要求1至3任一项提供的接口测试方法。