[发明专利]一种RFID芯片上存储器的自校验方法在审
| 申请号： | 201910858244.6 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110457970A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 孙晓霞;张建伟 | 申请（专利权）人： | 上海明矽微电子有限公司;张建伟 |
| 主分类号： | G06K7/10 | 分类号： | G06K7/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 异或运算 校验 用户读取 检验码 校验位 自校验 预置 | ||
【权利要求书】：
1.一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，使用奇校验方法为TID存储区中的序列号做校验，当序列号含有奇数个“1”时，校验码为“0”，当序列号含有偶数个“1”时，校验码为“1”。
2.如权利要求1所述的一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，针对TID中48位序列号等信息，为了增强编码和数据读取的可靠性，也为了让读卡器快速检测出TID数据的变化或者传输过程中的错误，标签在出厂测试过程中，将序列号经过奇校验运算得出校验位值，并存放于存储区。
3.如权利要求1所述的一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，如图2中，红色标注的是奇校验码。出厂后，用户通过读卡器读出序列号后，也使用相同的奇校验方法，自行计算TID中序列号等信息的奇校验值，并检测序列号是否正确。
4.如权利要求1所述的一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，本实施例中，奇校验的本质，是将读取出的二进制数据中“1”的个数进行统计，如果数据位加上校验位加起来1的个数是一个奇数，那么就认为这个数据串符合奇校验规则。
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