[发明专利]测试设备

说明书

本发明提供一种测试设备，用以承载待测电路板。测试设备包含基座、第一板体、第二板体、支架以及检测模块。基座包含承载面。承载面用以承载待测电路板。第一板体设置于基座。第二板体枢接于第一板体并迭设于第一板体远离基座的一侧。支架固定于第二板体。检测模块滑动地设置于支架而靠近或远离承载面。当第二板体相对第一板体枢转时，第二板体通过支架带动检测模块靠近或远离承载面。

技术领域

本发明涉及一种测试设备，特别是用来测试电路板的测试设备。

背景技术

一般而言，用来进行电路电性测试(In-circuit test，ICT)的测试设备包含基座及上模。待测试的电路板承载于基座的承载面。上模设置有测试探针，且测试探针凸出于上模中面对承载面的测试面。此外，上模滑动地设置于基座而远离或靠近基座，借以使测试探针电性连接或与待测试的电路板分离。

然而，由于上模相对基座滑动至最远离基座的位置时，基座的承载面及上模的测试面之间的空间仍不足以供维修人员更换或维修测试探针。因此，维修人员便需将上模的盖体拆除并将上模中设有测试探针的电路板取出才能进行测试探针的更换或维修，进而使维修人员无法以方便且有效率的方式更换或维修测试探针。

发明内容

本发明在于提供一种测试设备，以令检测模块中的电连接件以方便且有效率的方式被更换或维修。

本发明的一实施例所说明的测试设备，用以承载待测电路板。测试设备包含基座、第一板体、第二板体、支架以及检测模块。基座包含承载面。承载面用以承载待测电路板。第一板体设置于基座。第二板体枢接于第一板体并迭设于第一板体远离基座的一侧。支架固定于第二板体。检测模块滑动地设置于支架而靠近或远离承载面。当第二板体相对第一板体枢转时，第二板体通过支架带动检测模块靠近或远离承载面。

根据上述实施例所说明的测试设备，由于检测模块滑动地设置于固定在第二板体的支架，且第二板体枢接于固定在基座的第一板体，因此第二板体相对第一板体枢转时会带动检测模块远离基座的承载面。当第二板体相对第一板体枢转而带动检测模块远离承载面时，检测模块与承载面之间便具有足够的空间使得维修人员以方便且有效率的方式更换或维修检测模块中的电连接件。

以上关于本发明内容的说明及以下实施方式的说明用以示范与解释本发明的原理，并且提供本发明的专利申请范围更进一步的解释。

附图说明

图1为待测电路板以及根据本发明一实施例的测试设备的侧视图。

图2为图1中的测试设备的第一板体、凸件、第二板体、锁固件及枢接件的立体图。

图3为图2中的第一板体、凸件、第二板体、锁固件及枢接件的分解图。

图4为图1中的测试设备的上视图的局部放大图。

图5为沿图4中的割面线5-5所绘示的侧剖示意图的局部放大图。

图6为图1中的测试设备的第二板体沿开启方向相对第一板体枢转时的侧视图。

【附图标记列表】

10 测试设备

100 基座

101 承载面

102 第一定位孔

103 第二定位孔

120 滑轨

150 滑动件

200 第一板体

250 凸件

251 穿孔

260 第一定位结构