[发明专利]测试设备

权利要求书

1.一种测试设备，用以承载待测电路板，该测试设备包含：

基座，包含承载面，该承载面用以承载待测电路板；

第一板体，设置于该基座；

第二板体，枢接于该第一板体并迭设于该第一板体远离该基座的一侧；

支架，固定于该第二板体；以及

检测模块，滑动地设置于该支架而靠近或远离该承载面；

其中，当该第二板体相对该第一板体枢转时，该第二板体通过该支架带动该检测模块靠近或远离该承载面。

2.如权利要求1所述的测试设备，还包含锁固件，该锁固件锁固于该第一板体及该第二板体。

3.如权利要求1所述的测试设备，其中该第一板体设置于该基座的该承载面。

4.如权利要求1所述的测试设备，其中当该第二板体迭设于该第一板体时，该支架位于该第二板体远离该第一板体的一侧。

5.如权利要求1所述的测试设备，还包含两个枢接件，该两个枢接件各包含第一固定部、第二固定部及枢接轴部，各个该两个枢接件中，该第一固定部固定于该第一板体，该第二固定部固定于该第二板体，该枢接轴部的相对两侧分别枢接于该第一固定部及该第二固定部。

6.如权利要求1所述的测试设备，其中该检测模块包含壳体、电路板及多个电连接件，该壳体滑动地设置于该支架，该电路板设置于该壳体，该电连接件设置于该电路板中面对该承载面的侧面。

7.如权利要求1所述的测试设备，还包含滑轨及滑动件，该滑轨设置于该承载面，该滑动件设置于该第一板体面对该基座的一侧并滑动地设置于该滑轨。

8.如权利要求7所述的测试设备，还包含凸件、第一定位结构、第二定位结构、第三定位结构及第四定位结构，该凸件凸出于该第一板体，且该第一定位结构及该第二定位结构分别位于该凸件的相对两侧，该第三定位结构及该第四定位结构位于该基座，当该滑动件带动该第一板体滑动至第一位置时，该第一定位结构与该第三定位结构相卡合，当该滑动件带动该第一板体滑动至第二位置时，该第二定位结构与该第四定位结构相卡合。

9.如权利要求8所述的测试设备，还包含定位柱，该定位柱包含相连的宽径段及窄径段，该宽径段的直径大于该窄径段的直径，该窄径段活动地穿设于该凸件的穿孔，而令该宽径段承靠于该凸件远离该基座的一侧，该基座还包含第一定位孔及第二定位孔，当该第一板体位于该第一位置时，该窄径段位于该第一定位孔，当该第一板体位于该第二位置时，该窄径段位于该第二定位孔。

10.如权利要求1所述的测试设备，还包含把手，该把手设置于该检测模块。