[发明专利]镜头测试装置及其方法、控制装置和可读存储介质

说明书

本申请公开一种镜头测试装置及其方法、控制装置和可读存储介质，用于待测试镜头组件的检测。所述待测试镜头组件包括透光镜，所述镜头测试装置包括：测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔内设有所述待测试镜头组件；和测试组件，所述测试组件包括图像传感器，所述图像传感器朝向所述透光镜设置，并用于采集所述待测试镜头的图像数据。本申请技术方案旨在提高异物测试效率，便于为后续改进工作提供数据支持。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，特别涉及一种镜头测试装置及其方法、控制装置和可读存储介质。

背景技术

电子设备通常会采用透光镜对电子产品进行封装，以便于封装在电子产品内部的电子元器件从透光镜发出光线或者接收光线，在对电子元器件进行安装或者在透光镜进行封装的过程中，可能会有外部杂物或异物进入电子产品内部，此时会影响装在电子产品内部的电子元器件从透光镜发出光线或者接收光线。针对此问题，要对不良品进行大量分析，目前主要是通过人工检测脏污异物外观，二次元测量异物尺寸，手工绘制热点分布图，异物测试效率低，不利于为后续改进工作提供数据支持。

以上仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容为现有技术。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种镜头测试装置，旨在提高异物测试效率，便于为后续改进工作提供数据支持。

本发明的一实施例提出一种镜头测试装置，该镜头测试装置，用于待测试镜头组件的检测，所述待测试镜头组件包括透光镜，所述镜头测试装置包括：

测试箱，所述测试箱形成有容置腔，所述容置腔内设有所述待测试镜头组件；

测试组件，所述测试组件包括图像传感器，所述图像传感器朝向所述透光镜设置，并用于采集所述待测试镜头的图像数据。

本发明的一实施例还提出一种镜头测试方法，该镜头测试方法包括以下步骤：

获取待测试镜头组件的透光镜的图像数据；

根据所述图像数据进行分析得到异物数据参数；

根据多个所述异物数据参数输出异物分析表。

本发明的一实施例还提出一种镜头测试的控制装置，该镜头测试的控制装置包括：

获取模块，用于获取待测试镜头组件的透光镜的图像数据；

分析模块，用于根据所述图像数据进行分析得到异物数据参数；

输出模块，用于根据多个所述异物数据参数输出异物分析表。

本发明的一实施例还提出一种镜头测试装置，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的镜头测试程序，所述镜头测试程序被所述处理器执行时实现如下步骤：

获取待测试镜头组件的透光镜的图像数据；

根据所述图像数据进行分析得到异物数据参数；

根据多个所述异物数据参数输出异物分析表。

本发明的一实施例还提出一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有镜头测试程序，所述镜头测试程序被处理器执行时实现如下步骤：

获取待测试镜头组件的透光镜的图像数据；

根据所述图像数据进行分析得到异物数据参数；

根据多个所述异物数据参数输出异物分析表。