[发明专利]一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法

说明书

本发明提供一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，解决运算放大器辐射敏感参数耦合对传统测量技术带来的问题，提高了运算放大器在电离辐射环境中参数的准确测量。一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，包括以下步骤：步骤一、安装被测运算放大器；将被测运算放大器的电源端VCC和接地端VEE连接恒定电压源，正相输入端Vin+连接扫描电压源，负相输入端Vin‑连接恒定电压源，输出端Vout连接电压监测端；步骤二、设置测量参数；设定与负相输入端Vin‑连接的恒定电压源输出值为0V或规定值；依据被测运算放大器的器件手册和辐照后失调电压的漂移量，设置扫描电压源的扫描电压范围；步骤三、测试被测运算放大器；步骤四、提取敏感参数。

技术领域

本发明涉及电子元器件辐射效应测试领域，具体涉及一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法。

背景技术

运算放大器是航天空间电子器件中不可或缺的一部分，而空间电子器件的电性能测试是必不可少的环节，通常空间电子器件在空间的抗辐射能力通过地面模拟试验来考核验证。目前，运算放大器常采用辅助运放法进行电特性测试，此种测量方法在常规测试中有较好的测试精度和速度，然而运算放大器在电离辐射环境中会受到辐射作用，辐照后运算放大器各性能参数发生不同程度的退化，此时退化参数之间的耦合以及辐照后较宽范围的测试需求，对现有运算放大器参数测试测量方法的适用性提出了新的挑战。

传统的运算放大器电特性测量采用辅助运放将被测器件的电特性参数进行放大，随后通过测量辅助运算放大器的输出，再结合计算获得被测样品的性能参数值。在常规性能测量及工程筛选过程中，该方法并无不妥，不仅可以快速鉴别器件的好坏，且较高的测试速度和精度。然而，在运算放大器辐射效应及损伤机制研究过程中，该方法却表现出一定的弊端，主要问题有以下几点：1)辅助运放测量过程中，需要依据器件参数的超差，调节辅助运放环路的放大倍数及稳定性；2)辐照后参数的测量只能在特殊的偏置条件下获得；3)被测器件辐照后的各个退化参数之间耦合，严重影响测试结果的准确性。

例如，辐照敏感参数偏置电流在电离辐射环境中，随着累积总剂量的增加会致使偏置电流增大。采用辅助运放进行测试时，输出级参数的退化会对整个辅助运放环路增益产生影响，从而影响偏置电流的计算；若器件的失调电压受辐射的影响而发生较大变化，会影响运放环路对于偏置电流测量的能力。同样，失调电压、失调电流等辐射敏感参数的测量也不同程度上存在一定的问题。因此，急需一种新的运算放大器辐射效应测量方法，解决其在辐照后参数准确测量的问题。

发明内容

为了提高运算放大器在电离辐射环境中参数的准确测量，解决运算放大器辐射敏感参数耦合对传统测量技术带来的问题，本发明提供一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法。

为实现上述目的，本发明通过以下技术方案实现：

一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，包括以下步骤：

步骤一、安装被测运算放大器

将被测运算放大器的电源端VCC和接地端VEE连接恒定电压源，正相输入端Vin+连接扫描电压源，负相输入端Vin-连接恒定电压源，输出端Vout连接电压监测端；

步骤二、设置测量参数

设定与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出值为0V或规定值；

依据被测运算放大器的器件手册和辐照后失调电压的漂移量，设置扫描电压源的扫描电压范围；

步骤三、测试被测运算放大器

3.1)与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出0V或规定值，扫描电压源依照步骤二确定的扫描电压范围输出扫描电压；

3.2)实时监测正相输入端Vin+的电流值、负相输入端Vin-电流值，电源端VCC和接地端VEE的电流值、输出端Vout的电压值；